[发明专利]一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法在审
| 申请号： | 201810336337.8 | 申请日： | 2018-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN108519443A | 公开（公告）日： | 2018-09-11 |
| 发明（设计）人： | 高晓进;贺锁让;李晋平;江柏红;周金帅 | 申请（专利权）人： | 航天特种材料及工艺技术研究所 |
| 主分类号： | G01N29/44 | 分类号： | G01N29/44 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 谭辉;周娇娇 |
| 地址： | 100074 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法，包括如下步骤：根据被检件的外形，规划探头的扫查路径，使探头到被检件表面的距离相同；根据被检件的超声衰减系数和厚度确定超声波探伤仪的检测灵敏度；对被检件进行超声C扫检测，得到被检件的C扫灰度图像；计算被检件C扫灰度图像不同厚度处的补偿值，对C扫灰度图像进行灰度值补偿处理，得到补偿后的C扫图，根据C扫图进行缺陷判定；所述补偿值按照如下公式进行计算： |
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| 搜索关键词： | 灰度图像 超声C扫 检测 超声衰减系数 厚度材料 探头 超声波探伤 检测灵敏度 补偿处理 厚度确定 缺陷判定 复合材料 灰度 扫查 规划 | ||
【主权项】：
1.一种变厚度材料缺陷超声C扫检测方法，其特征在于：所述检测方法包括如下步骤：(1)根据被检件的外形，规划超声发射探头和超声接收探头的扫查路径，使超声发射探头和超声接收探头在扫查时到被检件表面的距离相同；(2)根据被检件的超声衰减系数和厚度确定超声波探伤仪的检测灵敏度；(3)对被检件进行超声C扫检测，得到被检件的C扫灰度图像；(4)计算被检件C扫灰度图像不同厚度处的补偿值，对C扫灰度图像进行灰度值补偿处理，得到补偿后的C扫图，根据C扫图进行缺陷判定；所述补偿值按照如下公式进行计算：![]()
其中，kx为补偿值，α为被检件的超声衰减系数，dx为检测处的材料厚度，d0为被检件最薄处的厚度。
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