[发明专利]用于白点Mura检测的系统及方法有效
申请号: | 201810347583.3 | 申请日: | 2018-04-18 |
公开(公告)号: | CN108734696B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 李章焕;张逸炜 | 申请(专利权)人: | 三星显示有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/45;G06V10/764 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 康泉;宋志强 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及用于白点Mura检测的系统及方法。一种用于对显示面板中的图像的诸如白点Mura缺陷等一个或多个缺陷进行检测的方法包括:接收显示面板的图像;将图像划分为多个斑块,多个斑块中的每个斑块对应于图像的m个像素×n个像素的区域(其中m和n是大于或等于1的整数);针对多个斑块生成多个特征向量,多个特征向量中的每个特征向量对应于多个斑块中的一个斑块,并且包括一个或多个图像纹理特征以及一个或多个图像矩特征;以及通过利用多类支持向量机,基于多个特征向量中的相应一个特征向量来对多个斑块中的每个斑块进行分类,以检测一个或多个缺陷。 | ||
搜索关键词: | 用于 白点 mura 检测 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于检测显示面板中的图像的一个或多个缺陷的方法,所述方法包括:接收所述显示面板的所述图像;将所述图像划分为多个斑块,所述多个斑块中的每个斑块对应于所述图像的m个像素×n个像素的区域,其中m和n是大于或等于1的整数;针对所述多个斑块生成多个特征向量,所述多个特征向量中的每个特征向量对应于所述多个斑块中的一个斑块,并且包括一个或多个图像纹理特征以及一个或多个图像矩特征;以及通过利用多类支持向量机,基于所述多个特征向量中的相应一个特征向量来对所述多个斑块中的每个斑块进行分类,以检测所述一个或多个缺陷。
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