[发明专利]一种测试码生成电路有效
| 申请号： | 201810351336.0 | 申请日： | 2018-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN108508352B | 公开（公告）日： | 2020-11-24 |
| 发明（设计）人： | 鲍宜鹏;王效 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 总装工程兵科研一所专利服务中心 32002 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214000*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试码生成电路，属于集成电路技术领域。所述测试码生成电路用于SOC芯片测试，包括N位计数器、M位移位寄存器、测试模式锁定单元、密钥判断锁定单元和输出选择单元；其中，进入测试的辅助信号包括复位信号、第一引脚信号、第二引脚信号、第三引脚信号和加电复位信号，测试码最高位或复位信号作为测试码的输出条件。在输出测试码的同时，芯片系统依然可以处于复位状态，也可以处于不复位状态，增加芯片系统测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 生成 电路 | ||
【主权项】：
1.一种测试码生成电路，用于SOC芯片测试，其特征在于，包括：N位计数器、M位移位寄存器、测试模式锁定单元、密钥判断锁定单元和输出选择单元；其中，进入测试的辅助信号包括复位信号、第一引脚信号、第二引脚信号、第三引脚信号和加电复位信号，测试码最高位或复位信号作为测试码的输出条件。
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