[发明专利]磁通门梯度测量探头有效
申请号: | 201810363930.1 | 申请日: | 2018-04-22 |
公开(公告)号: | CN108732517B | 公开(公告)日: | 2020-07-14 |
发明(设计)人: | 李志鹏;王绪本;高嵩;王彬宇;樊业东;汪莹莹;草彬 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学 |
主分类号: | G01R33/022 | 分类号: | G01R33/022 |
代理公司: | 成都科奥专利事务所(普通合伙) 51101 | 代理人: | 余丽生 |
地址: | 610059 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种磁通门梯度测量探头,包括无磁骨架、磁芯、测量线圈和激励线圈;所述无磁骨架包括两个相互平行的直体骨架;所述无磁骨架轴向设有空腔,所述磁芯穿装在所述无磁骨架的空腔中并首尾相接形成两侧平行的环状结构;同时在两个直体骨架外壁绕制有两段相互留有间隔的所述测量线圈;在每段测量线圈两侧、每个所述直体骨架外壁都分别绕制有所述激励线圈。本发明能避免采用多个探头进行梯度测量的误差,测量的灵敏度高,精度好,能完成沿单个方向的磁场梯度测量。 | ||
搜索关键词: | 磁通门 梯度 测量 探头 | ||
【主权项】:
1.一种磁通门梯度测量探头,包括无磁骨架、磁芯、测量线圈和激励线圈;其特征在于:所述无磁骨架包括两个相互平行的直体骨架;所述无磁骨架轴向设有空腔,所述磁芯穿装在所述无磁骨架的空腔中并首尾相接形成两侧平行的环状结构;同时在两个直体骨架外壁绕制有两段相互留有间隔的所述测量线圈;在每段测量线圈两侧、每个所述直体骨架外壁都分别绕制有所述激励线圈。
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