[发明专利]一种测试机的智能控制方法在审
| 申请号： | 201810365859.0 | 申请日： | 2018-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN108940902A | 公开（公告）日： | 2018-12-07 |
| 发明（设计）人： | 马峻;徐企娟 | 申请（专利权）人： | 苏州诺登德智能科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/36 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 许方 |
| 地址： | 215000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试机的智能控制方法，具体步骤为：IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。 | ||
| 搜索关键词： | 分选 测试 传送机构 管理系统 机台 智能控制 测试机 调出 程序传输 待测芯片 扫描结果 扫描信息 生产需求 送料机构 不良品 条形码 良品 料盒 传送 扫描 传输 生产 | ||
【主权项】：
1.一种测试机的智能控制方法，其特征在于，包括以下具体步骤：步骤1，IC芯片测试分选管理系统根据生产需求，从待测芯片库中将待测试的IC芯片调出；步骤2，传送机构将待测试的IC芯片传送到测试分选机台的送料机构上，同时扫描待测试的IC芯片料盒上的条形码，并将扫描结果传输至IC芯片测试分选管理系统；步骤3，IC芯片测试分选管理系统根据接收到的传送机构扫描信息，调出相应的测试分选程序，并将测试分选程序传输至测试分选机台的PLC；步骤4，生产完成后，传送机构将分选后的IC芯片分别传送至良品库和不良品库。
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