[发明专利]一种利用分子束外延设备生长大尺度砷化镉薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201810377140.9 申请日: 2018-04-25
公开(公告)号: CN108660508A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 修发贤;凌霁玮 申请(专利权)人: 复旦大学
主分类号: C30B23/02 分类号: C30B23/02;C30B29/10;H01L21/02
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;陆尤
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于薄膜制备技术领域,具体一种利用分子束外延设备生长大尺寸砷化镉薄膜的方法。本发明方法,利用云母作为衬底,首先生长碲化镉作为缓冲层,利用砷化镉非晶块体材作为热蒸发源,以较低温度生长砷化镉低温缓冲层,随后在较高温度生长砷化镉薄膜至所需厚度。本发明与现有技术相比,使用经济的云母作为衬底,衬底处理工艺简单,采用非晶砷化镉蒸发源对设备要求低,工艺简单可获得晶圆级单晶薄膜,样品尺寸可达两英寸;薄膜单晶质量好,迁移率高。薄膜单晶质量好,迁移率高。
搜索关键词: 砷化 生长 镉薄膜 分子束外延设备 云母 薄膜单晶 迁移率 衬底 非晶 薄膜制备技术 低温缓冲层 衬底处理 单晶薄膜 热蒸发源 大尺度 对设备 缓冲层 晶圆级 蒸发源 碲化镉 块体
【主权项】:
1.一种利用分子束外延设备生长大尺度砷化镉薄膜的方法,其特征在于,具体步骤为:(1)采用云母作为衬底,对衬底采用机械剥离方式处理,以得到平整清洁的解理面;(2)采用分子束外延技术,在衬底上生长碲化镉作薄膜作为缓冲层;生长碲化镉缓冲层以解决晶格失配问题;(3)采用分子束外延技术,在碲化镉上生长砷化镉薄膜,分两步进行:首先以较低温度110‑120℃生长温度生长4‑10纳米砷化镉薄膜,使得砷化镉在缓冲层上大面积成核外延,随后,提高生长温度至150‑170℃生长所需厚度的砷化镉单晶薄膜。
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