[发明专利]三维存储器的制造方法及形成晶体硅层的方法有效
申请号: | 201810378963.3 | 申请日: | 2018-04-25 |
公开(公告)号: | CN108461503B | 公开(公告)日: | 2019-11-08 |
发明(设计)人: | 方振 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11597 | 分类号: | H01L27/11597 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 骆希聪 |
地址: | 430205 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种三维存储器的制造方法,包括:形成第一绝缘叠层;以第一绝缘叠层形成具有台阶区和核心区的第二绝缘层;在台阶区形成多个第一通道孔;在核心区形成多个第二通道孔;在第一通道孔和第二通道孔的底部形成无定型硅层;对无定型硅层进行激光照射,以使无定型硅层结晶。本发明提供的三维存储器的制造方法,改变了以生长方式在通道孔底部形成硅层的方法,因此较容易控制最终形成的硅层的高度。 | ||
搜索关键词: | 通道孔 三维存储器 无定型硅 绝缘叠层 核心区 台阶区 硅层 绝缘层 制造 激光照射 晶体硅层 生长 | ||
【主权项】:
1.一种三维存储器的制造方法,其特征在于,包括:在衬底上形成第一绝缘叠层,所述第一绝缘叠层包括沿第一方向交替堆叠的第一绝缘层和第二绝缘层;所述第一方向为垂直于所述衬底的表面的方向;在所述第一绝缘叠层上形成台阶结构,得到第二绝缘叠层,使得所述第二绝缘叠层包括沿第二方向并排设置的台阶区和核心区;所述第二方向为平行于所述衬底的表面的方向,所述台阶区包括所述台阶结构;形成沿第一方向贯穿所述台阶区的多个第一通道孔;形成沿第一方向贯穿所述核心区的多个第二通道孔;在所述多个第一通道孔的底部形成第一无定型硅层;在所述多个第二通道孔的底部形成第二无定型硅层;对所述第一无定型硅层和所述第二无定型硅层进行激光照射,以使所述第一无定型硅层和所述第二无定型硅层结晶。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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