[发明专利]物品检测方法和装置有效
申请号: | 201810383513.3 | 申请日: | 2018-04-26 |
公开(公告)号: | CN110412655B | 公开(公告)日: | 2020-12-22 |
发明(设计)人: | 底欣;张兆宇;田军;李磊 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
主分类号: | G01V3/12 | 分类号: | G01V3/12 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明实施例提供一种物品检测方法和装置,其中,待检测物品与干扰反射物的距离不小于该窗函数的主瓣宽度与收发单元的距离分辨率的乘积,该待检测物品与该收发单元的距离不小于该收发单元的距离分辨率,或者附加反射物与干扰反射物的距离不小于窗函数的主瓣宽度与收发单元的距离分辨率的乘积,该附加反射物与待检测物品的距离不小于该窗函数的主瓣宽度与收发单元的距离分辨率的乘积,该待检测物品与该收发单元的距离不小于该收发单元的距离分辨率。由此,能够消除环境中干扰反射物产生的反射信号对最终物品检测的影响,降低了对待检测物品与物品检测装置摆放位置准确性的要求,提高了物品检测抗环境干扰的能力,提高了物品检测的精度。 | ||
搜索关键词: | 物品 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种物品检测装置,其中,所述物品检测装置包括:收发单元、第一处理单元;所述待检测物品放置在所述收发单元与环境中的干扰反射物之间;所述收发单元向所述待检测物品发送第一发射信号;并接收所述第一发射信号经所述待检测物品反射后的第一接收信号;所述第一处理单元根据所述第一接收信号和所述第一发射信号获取第一基带信号,根据窗函数对所述第一基带信号进行处理,以获得第一接收信号的第一特性,根据所述第一特性检测所述待检测物品;其中,所述待检测物品与所述干扰反射物的距离不小于所述窗函数的主瓣宽度和所述收发单元的频率分辨率的比值与所述收发单元的距离分辨率的乘积,所述待检测物品与所述收发单元的距离不小于所述收发单元的距离分辨率。
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