[发明专利]TFT阵列基板及TFT阵列基板的检测方法有效
| 申请号： | 201810387653.8 | 申请日： | 2018-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN108646941B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 廖作敏;张启沛;苗思文 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G02F1/13;G02F1/1362;G02F1/1368 |
| 代理公司： | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人： | 林才桂;鞠骁 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明提供一种TFT阵列基板及TFT阵列基板的检测方法。该TFT阵列基板包括第一触控检测信号输出模块以及第二触控检测信号输出模块，第一触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应且控制端接入第一控制信号的多个第一开关单元，第二触控检测信号输出模块包括分别与多条触控走线对应且控制端接入第二控制信号的多个第二开关单元，在对TFT阵列基板进行触控检测时，通过调整第一控制信号及第二控制信号，能够利用第一触控检测信号输出模块或第二触控检测信号输出模块向多条触控走线输出触控检测信号，即使两个触控检测信号输出模块中的一个受到损坏，仍能够保证触控检测信号的可靠输出，具有较高的产品品质。 | ||
| 搜索关键词： | tft 阵列 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种TFT阵列基板，其特征在于，包括衬底(100)、设于衬底(100)上的多列触控走线(200)、与多列触控走线(200)均电性连接的第一触控检测信号输出模块(310)以及与多列触控走线(200)均电性连接的第二触控检测信号输出模块(320)；所述第一触控检测信号输出模块(310)包括分别与多条触控走线(200)对应的多个第一开关单元(311)；所述第一开关单元(311)的控制端接入第一控制信号(TPEN1)，输出端电性连接对应的触控走线(200)；与奇数列触控走线(200)对应的第一开关单元(311)的输入端接入第一触控检测信号(TPDO)，与偶数列触控走线(200)对应的第一开关单元(311)的输入端接入第二触控检测信号(TPDE)；所述第二触控检测信号输出模块(320)包括分别与多条触控走线(200)对应的多个第二开关单元(321)；所述第二开关单元(321)的控制端接入第二控制信号(TPEN2)，输出端电性连接对应的触控走线(200)；与奇数列触控走线(200)对应的第二开关单元(321)的输入端接入第一触控检测信号(TPDO)，与偶数列触控走线(200)对应的第二开关单元(321)的输入端接入第二触控检测信号(TPDE)。
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