[发明专利]一种基于嵌入式控制器的发射装置机构功能测试系统有效
| 申请号： | 201810401278.8 | 申请日： | 2018-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN108974388B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 高润鹏;聂光玮;陈治国;王鹏飞;李昕奇;赵滨;尚焜;张力夫;王昊;李建冬 | 申请（专利权）人： | 北京机械设备研究所 |
| 主分类号： | G05B19/00 | 分类号： | G05B19/00;B64F1/00 |
| 代理公司： | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人： | 龚颐雯;庞许倩 |
| 地址： | 100854 北京市海淀区永*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于嵌入式控制器的发射装置机构功能测试系统，属于发射装置测试技术领域，解决了现有技术中测试装置机柜体积大、电缆数量多、重量重、携带不方便或手动测试操作繁琐、容易短路、测试不方便的问题。包括：上位机、嵌入式控制器、机构控制盒、电源、发射装置机构；上位机与嵌入式控制器通过通讯电缆连接；嵌入式控制器与机构控制盒通过电缆连接；机构控制盒与发射装置机构通过电缆连接。该系统采用嵌入式控制器，具备体积小、功能强、重量轻的特点，可以容易的安装在发射装置上，提高了测试系统的适用性；同时，将电缆集成到了发射装置上，大大减少了检测系统的重量和体积，节约了测试时间，测试简单方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 嵌入式 控制器 发射 装置 机构 功能 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种基于嵌入式控制器的发射装置机构功能测试系统，其特征在于，包括：上位机、嵌入式控制器、机构控制盒、发射装置机构；所述上位机用于向所述嵌入式控制器发送控制信号，同时接收所述嵌入式控制器发送的到位信号，并对接收到位信号的时间是否超时进行判断；所述嵌入式控制器用于接收所述上位机发出的控制信号，并根据接收到的信号向所述机构控制盒输出相应的开关量信号；还用于接收发射装置机构的到位信号，并发送给所述上位机；所述机构控制盒用于接收所述嵌入式控制器输出的开关量信号，并根据接收到的开关量信号，控制所述发射装置机构的通/断电；所述发射装置机构的电机响应供电电流进行工作，并向所述嵌入式控制器发送到位信号。
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