[发明专利]光学元件检测方法、装置、电子设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201810402208.4 申请日: 2018-04-28
公开(公告)号: CN108600740B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 谭国辉;白剑;田志华 申请(专利权)人: OPPO广东移动通信有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 方高明
地址: 523860 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种光学元件检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。所述方法包括:获取散斑图,散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像,根据散斑图获取散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值,零级区域为亮度最大的区域,检测散斑图在零级区域周围的区域的亮度均值,当零级区域的亮度均值与零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时,则判定光学元件异常。由于可以根据散斑图零级区域与零级区域周围的区域的零度均值对光学元件进行检测,可以避免受到不同亮度环境的干扰,提高检测的准确性。
搜索关键词: 光学 元件 检测 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种光学元件检测方法,所述方法包括:获取散斑图,所述散斑图是投射器中光源产生的激光通过光学元件后所形成的图像;根据所述散斑图获取所述散斑图的零级区域及零级区域的亮度均值,所述零级区域为亮度最大的区域;检测所述散斑图在所述零级区域周围的区域的亮度均值;当所述零级区域的亮度均值与所述零级区域周围的区域的亮度均值的比值大于第一阈值时,则判定所述光学元件异常。
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