[发明专利]一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法和检测系统有效
| 申请号： | 201810411166.0 | 申请日： | 2018-05-02 |
| 公开（公告）号： | CN108827597B | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 林挺;吴慧剑 | 申请（专利权）人： | 信利光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 邓义华;李健威 |
| 地址： | 516600 广东省汕*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法和检测系统。该检测方法包括：步骤1：采集结构光投影器向平面投射的光斑，以获取光斑图像；步骤2：确定光斑图像中的0级衍射点；步骤3：以0级衍射点为中心，在不同视场角上各选取若干个取值区域；步骤4：分析选取的取值区域的亮度参数，若任一视场角上选取的若干个取值区域的亮度参数之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。该光斑均匀度检测方法可以检测出结构光投影器的光斑均匀度是否合格，以筛选出良品和不良品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 结构 投影 光斑 均匀 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种结构光投影器的光斑均匀度检测方法，其特征在于，包括：步骤a：结构光投影器向平面投射光斑，光斑采集装置向平面采集光斑并获取光斑图像；步骤b：确定光斑图像中的0级衍射点；步骤c：以0级衍射点为中心，在不同视场角上各选取若干个取值区域；步骤d：分析选取的取值区域的亮度参数，若任一视场角上选取的若干个取值区域的亮度参数之间的差异过大，则判断该结构光投影器的光斑均匀度为不合格。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于信利光电股份有限公司，未经信利光电股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810411166.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
