[发明专利]一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法在审

专利信息
申请号: 201810417195.8 申请日: 2018-05-02
公开(公告)号: CN110441243A 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 卞希慧;陈望松;郭玉高 申请(专利权)人: 天津工业大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N1/28;G01N1/34
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 300387 *** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法。具体步骤为配制实验所需的硝酸铜溶液、PAN溶液和Tris‑HCl缓冲溶液试剂;生成Cu2+的络合物,通过紫外可见漫反射光谱,确定铜离子的最佳吸收波长点;采用控制变量的方法对pH、PAN用量、反应时间和样品用量进行优化,得到最佳检测条件;在最佳检测条件下,配制一系列不同浓度的Cu2+溶液,利用混合纤维素膜进行富集后,直接检测其紫外可见漫反射光谱,建立Cu2+的工作曲线。本发明基于紫外可见漫反射光谱及膜富集技术,无需洗脱步骤,检测迅速,准确度高。本发明适用于水中痕量重金属离子的定量分析。
搜索关键词: 紫外可见漫反射光谱 富集 定量分析 水中痕量 铜离子 最佳检测条件 配制 混合纤维素膜 硝酸铜溶液 重金属离子 工作曲线 缓冲溶液 控制变量 吸收波长 样品用量 直接检测 准确度 络合物 洗脱 检测 优化
【主权项】:
1.一种基于膜富集及紫外可见漫反射光谱的水中痕量铜离子定量分析方法,其特征在于:配制实验所需的试剂;并采集配制而成络合物的紫外漫反射光谱,确定铜离子的最佳紫外可见吸收波长点;采用控制变量的方法对测试条件(pH、PAN的用量、反应时间和样品用量)进行优化;建立痕量铜离子检测的工作曲线,得到Cu2+的检出限,对未知样品预测。
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