[发明专利]基于分段式多项式拟合的相位-高度映射系统的标定方法有效
申请号: | 201810421266.1 | 申请日: | 2018-05-04 |
公开(公告)号: | CN108648239B | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | 吴加富;缪磊;万安军 | 申请(专利权)人: | 苏州富强科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/80 | 分类号: | G06T7/80;G06T17/00 |
代理公司: | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 11369 | 代理人: | 韩飞 |
地址: | 215000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于分段式多项式拟合的相位‑高度映射系统的标定方法,即采用多项式拟合进行相位‑高度映射系统的分段式标定,根据本案所提出的方法,对量程范围进行区间划分,在不同的高度范围内采用不同的拟合阶次进行多项式拟合标定,从而使测量范围内每个位置的相对误差最小,本案中分段式多项式拟合标定下的三维重建精度比1~6阶次多项式拟合标定下的三维重建精度更高,过程更简化。 | ||
搜索关键词: | 基于 段式 多项式 拟合 相位 高度 映射 系统 标定 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于分段式多项式拟合的相位‑高度映射系统的标定方法,其特征在于,包括下述步骤:1)获取待测物体的若干个高度值及对应位置相位差,对每组所述高度值和相位差分别进行多阶次多项式拟合,依次得到各阶次拟合参数;对所述各阶拟合参数进行偏移、放大处理,保存为图像数据;2)利用步骤1)中所述各阶次拟合参数对标准校正板进行三维重建与检测,得到各阶次拟合标定参数,同时计算出标准校正板中各凸起在每个阶次下的拟合测量高度值,以及该拟合测量高度值与标准值的绝对误差,其中以绝对误差最小的拟合阶次为第一阶次;3)提取待标定范围内一组等差间隔的相位差值,进行所述第一阶次的多项式拟合标定,得到每个间隔的标定参数并对其进行精度验证,其中具有最小平均相对误差的间隔为第一拟合间隔;4)在待测物体具有等差的理论高度处分别进行步骤2)中所述各阶次拟合标定参数下的高度检测,并计算实际检测值和理论高度值之间的相对误差;5)根据步骤4)所得相对误差,将待测物体的高度划分为若干区间,其中各区间采用特定阶次多项式拟合时出现最小相对误差;6)通过步骤3)中所述标定参数对步骤5)中所划分的各区间采用所述第一阶次的多项式拟合并进行三维重建与检测,根据所述检测值判断每个区间的最佳拟合阶次;7)根据步骤6)中所述最佳拟合阶次,计算各区间的系统标定参数并进行三维检测与重建,进而对待测物体进行分段式多项式拟合标定。
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