[发明专利]半导体发光微显示器件及其制造方法以及衬底剥离方法有效

专利信息
申请号: 201810430652.7 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN108649046B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 刘伟;彭绍文;蔡和勋;邓群雄;柯志杰 申请(专利权)人: 厦门乾照光电股份有限公司
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15;H01L33/20;H01L33/24;H01L33/62;H01L33/00
代理公司: 厦门创象知识产权代理有限公司 35232 代理人: 尤怀成;廖吉保
地址: 361100 福建省厦门市火炬*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明公开半导体发光微显示器件,其外延结构由N‑GaN、有源层至P‑GaN横截面的宽度逐渐增大,透光导电层位于N‑GaN表面上,连接电极位于P‑GaN表面上,像素电极位于连接电极表面上,导电胶连接于透光导电层与像素电极之间。本发明还公开半导体发光微显示器件制造方法。本发明还公开衬底剥离方法。外延结构由N‑GaN、有源层至P‑GaN横截面的宽度逐渐增大,使得外延结构的N‑GaN与衬底的接触面积较小,减小激光剥离阈值,提升激光剥离良率。
搜索关键词: 半导体 发光 显示 器件 及其 制造 方法 以及 衬底 剥离
【主权项】:
1.半导体发光微显示器件,其特征在于:包括多个外延结构,所述外延结构包括依次层叠设置的N‑GaN、有源层及P‑GaN,所述外延结构由N‑GaN、有源层至P‑GaN横截面的宽度逐渐增大;透光导电层,所述透光导电层位于所述N‑GaN表面上,与所述N‑GaN电连接;连接电极,所述连接电极位于所述P‑GaN表面上,与所述P‑GaN电连接;像素电极,所述像素电极位于所述连接电极表面上,与所述连接电极电连接;导电胶,所述导电胶连接于所述透光导电层与所述像素电极之间。
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