[发明专利]一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置在审
| 申请号： | 201810433065.3 | 申请日： | 2018-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN110455231A | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 孙文彬 | 申请（专利权）人： | 上海新宇箴诚电控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B21/00 | 分类号： | G01B21/00 |
| 代理公司： | 31225 上海科盛知识产权代理有限公司 | 代理人： | 应小波<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 201802上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置，该装置包括基准对比检测机构和定位机构，所述的基准对比检测机构与定位机构通过定位插槽配合连接。与现有技术相比，本发明具有以下优点：能满足特殊尺寸范围的测量需求，测量头有防护，提高重复测量精度等。 | ||
| 搜索关键词： | 基准对比 定位机构 测量径向 测量需求 定位插槽 检测装置 配合连接 重复测量 测量头 内孔 跳动 防护 | ||
【主权项】：
1.一种实现内孔基准对比测量径向跳动的检测装置，其特征在于，该装置包括基准对比检测机构和定位机构，所述的基准对比检测机构与定位机构通过定位插槽配合连接。/n
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