[发明专利]测试基板及其制备方法、检测方法、显示基板、显示装置

摘要

本发明实施例提供一种测试基板及其制备方法、检测方法、显示基板、显示装置，涉及显示技术领域，可改善现有技术中因总电容过大，影响模拟时源极充放电速度的问题，还可提高仿真结果的准确性。一种测试基板，包括衬底，包括依次设置在衬底上的第一电极层、像素界定层、发光功能层、以及第二电极层；其中，像素界定层用于界定出多个开口区，第一电极层包括多个第一电极；每个第一电极和第二电极层在衬底上的投影重叠的区域为一个测试单元所在的区域；每个测试单元中，像素界定层与发光功能层在衬底上的投影重叠的区域为第一区域；在至少两个测试单元中，第一电极位于第一区域的部分的面积不同。

主权项

1.一种测试基板，包括衬底，其特征在于，包括依次设置在所述衬底上的第一电极层、像素界定层、发光功能层、以及第二电极层；其中，所述像素界定层用于界定出多个开口区，所述第一电极层包括多个所述第一电极；每个所述第一电极和所述第二电极层在所述衬底上的投影重叠的区域为一个测试单元所在的区域；每个所述测试单元中，所述像素界定层与所述发光功能层在所述衬底上的投影重叠的区域为第一区域；在至少两个所述测试单元中，所述第一电极位于所述第一区域的部分的面积不同。