[发明专利]TFT基板的制作方法在审

专利信息
申请号: 201810433816.1 申请日: 2018-05-08
公开(公告)号: CN108682654A 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 刘司洋 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L27/12
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人: 林才桂;程晓
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种TFT基板的制作方法,采用4Mask的第二道光罩制程制作叠加于第一金属线上方的第二金属线,该制程中所使用的第二光罩的第二金属线图案两侧外缘处设有狭缝,相比于使用传统光罩,所形成的光阻图案层的两侧会对应所述狭缝形成凹槽,且光阻图案层两侧的厚度将会减小,在对光阻图案层进行干法蚀刻时,由于光阻图案层两侧的厚度减小,在同样的干法蚀刻条件下,光阻图案层的宽度损失量会变大,进而会导致第二金属层在第二次湿法蚀刻时的尺寸损失量变大,如此便达到了不调节制程条件而实现减小第二金属线宽度的目的,使第二金属线相对第一金属线发生偏移时,第二金属线在坡底边缘处残留的风险减小,制程空余调节量变大。
搜索关键词: 金属线 光阻图案层 减小 制程 干法蚀刻 光罩 狭缝 制作 第二金属层 金属线图案 尺寸损失 厚度减小 湿法蚀刻 制程条件 底边缘 损失量 图案层 外缘处 偏移 叠加 残留
【主权项】:
1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、提供一衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上沉积并图案化形成第一金属线(11),在所述第一金属线(11)与衬底基板(10)上沉积形成间隔层(15);步骤S2、在所述间隔层(15)上沉积第二金属层(20),在所述第二金属层(20)上涂覆光阻层(80),提供第二光罩(90),所述第二光罩(90)具有第二金属线图案(95),所述第二金属线图案(95)两侧外缘处设有狭缝(96),利用所述第二光罩(90)对所述光阻层(80)进行曝光、显影,得到对应位于所述第一金属线(11)上方的光阻图案层(85),所述光阻图案层(85)的两侧对应所述狭缝(96)形成凹槽(86),且光阻图案层(85)两侧的厚度相对于中部的厚度减小;步骤S3、以所述光阻图案层(85)为遮蔽层,对所述第二金属层(20)进行进行第一次湿法蚀刻;步骤S4、对所述光阻图案层(85)进行干法蚀刻,减薄所述光阻图案层(85);步骤S5、以减薄后的光阻图案层(85)为遮蔽层,对所述第二金属层(20)进行进行第二次湿法蚀刻,去除光阻图案层(85),得到对应位于所述第一金属线(11)上方的第二金属线(21)。
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