[发明专利]TFT基板的制作方法在审
申请号: | 201810433816.1 | 申请日: | 2018-05-08 |
公开(公告)号: | CN108682654A | 公开(公告)日: | 2018-10-19 |
发明(设计)人: | 刘司洋 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂;程晓 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法,采用4Mask的第二道光罩制程制作叠加于第一金属线上方的第二金属线,该制程中所使用的第二光罩的第二金属线图案两侧外缘处设有狭缝,相比于使用传统光罩,所形成的光阻图案层的两侧会对应所述狭缝形成凹槽,且光阻图案层两侧的厚度将会减小,在对光阻图案层进行干法蚀刻时,由于光阻图案层两侧的厚度减小,在同样的干法蚀刻条件下,光阻图案层的宽度损失量会变大,进而会导致第二金属层在第二次湿法蚀刻时的尺寸损失量变大,如此便达到了不调节制程条件而实现减小第二金属线宽度的目的,使第二金属线相对第一金属线发生偏移时,第二金属线在坡底边缘处残留的风险减小,制程空余调节量变大。 | ||
搜索关键词: | 金属线 光阻图案层 减小 制程 干法蚀刻 光罩 狭缝 制作 第二金属层 金属线图案 尺寸损失 厚度减小 湿法蚀刻 制程条件 底边缘 损失量 图案层 外缘处 偏移 叠加 残留 | ||
【主权项】:
1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1、提供一衬底基板(10),在所述衬底基板(10)上沉积并图案化形成第一金属线(11),在所述第一金属线(11)与衬底基板(10)上沉积形成间隔层(15);步骤S2、在所述间隔层(15)上沉积第二金属层(20),在所述第二金属层(20)上涂覆光阻层(80),提供第二光罩(90),所述第二光罩(90)具有第二金属线图案(95),所述第二金属线图案(95)两侧外缘处设有狭缝(96),利用所述第二光罩(90)对所述光阻层(80)进行曝光、显影,得到对应位于所述第一金属线(11)上方的光阻图案层(85),所述光阻图案层(85)的两侧对应所述狭缝(96)形成凹槽(86),且光阻图案层(85)两侧的厚度相对于中部的厚度减小;步骤S3、以所述光阻图案层(85)为遮蔽层,对所述第二金属层(20)进行进行第一次湿法蚀刻;步骤S4、对所述光阻图案层(85)进行干法蚀刻,减薄所述光阻图案层(85);步骤S5、以减薄后的光阻图案层(85)为遮蔽层,对所述第二金属层(20)进行进行第二次湿法蚀刻,去除光阻图案层(85),得到对应位于所述第一金属线(11)上方的第二金属线(21)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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