[发明专利]微粒测量装置及其数据处理方法在审
| 申请号： | 201810439504.1 | 申请日： | 2013-04-03 |
| 公开（公告）号： | CN108593529A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 新田尚;今西慎悟;竹内太一 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及微粒测量装置及其数据处理方法。一种用于微粒测量装置的数据处理方法，包括：通过将光发射到流过流道的微粒上来检测从所述微粒产生的光的强度信息，其中，所述光通过检测装置来检测，所述检测装置的光接收表面被以格状方式分成区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域，以及基于所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A‑C)来处理所述强度信息。 | ||
| 搜索关键词： | 微粒测量装置 数据处理 强度信息 检测 通过检测装置 光接收表面 检测装置 微粒产生 光发射 格状 流道 | ||
【主权项】：
1.一种用于微粒测量装置的数据处理方法，包括：通过将光发射到流过流道的微粒上来检测从所述微粒产生的光的强度信息，其中，所述光通过检测装置来检测，所述检测装置的光接收表面被以格状方式分成区域A、区域B、区域C和区域D的四个区域，以及基于所述区域A和与所述区域A不相邻的所述区域C中的检测值的差分Δ1(A‑C)来处理所述强度信息。
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