[发明专利]一种多通道时间间隔测量系统在审
| 申请号： | 201810441178.8 | 申请日： | 2018-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN110471272A | 公开（公告）日： | 2019-11-19 |
| 发明（设计）人： | 刘园园 | 申请（专利权）人： | 刘园园 |
| 主分类号： | G04F10/00 | 分类号： | G04F10/00 |
| 代理公司： | 61222 西安利泽明知识产权代理有限公司 | 代理人： | 马海蓉<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 719103 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多通道时间间隔测量系统，包括单片机核心控制单元、接口BNC、恒温晶振、SPI串行接口及系统总线，其特征在于：还包括时间间隔测试单元；所述接口BNC与时间间隔测试单元的输入端相连，时间间隔测试单元的输出端通过SPI总线与单片机核心控制单元相连；所述时间间隔测试单元由FPGA模块与至少1个的TDC模块组成，所述FPGA模块的第二输出端与TDC模块的第二输入端相连，所述FPGA模块的第一输出端、TDC模块的第一输出端与单片机核心控制单元通过SPI总线相连。本发明具有多功能、多通道、大量程的时间间隔测量技术效果，满足时间间隔测量应用领域新的需要，多功能的测量使得测试更加方便，多通道的测量使得测量方法更有效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试单元 输出端 时间间隔测量 单片机核心 多通道 测量 输入端 恒温晶振 技术效果 系统总线 大量程 测试 | ||
【主权项】：
1.一种多通道时间间隔测量系统，包括单片机核心控制单元、接口BNC、恒温晶振、SPI串行接口及系统总线，其特征在于：还包括时间间隔测试单元；所述接口BNC与时间间隔测试单元的输入端相连，时间间隔测试单元的输出端通过SPI总线与单片机核心控制单元相连；所述时间间隔测试单元由FPGA模块与至少1个的TDC模块组成，所述FPGA模块的第二输出端与TDC模块的第二输入端相连，所述FPGA模块的第一输出端、TDC模块的第一输出端与单片机核心控制单元通过SPI总线相连，所述FPGA模块的第一输入端、TDC模块的第一输入端与接口BNC相连；所述恒温晶振与FPGA模块相连。/n
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