[发明专利]蒸镀设备中晶振片位置的检测方法、蒸镀方法及相关装置有效

专利信息
申请号: 201810442144.0 申请日: 2018-05-10
公开(公告)号: CN108893722B 公开(公告)日: 2019-06-28
发明(设计)人: 白玉庭;张超 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
主分类号: C23C14/54 分类号: C23C14/54;C23C14/24
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种蒸镀设备中晶振片位置的检测方法、蒸镀方法及相关装置,采用至少两个互不平行的金属电极板,与位于检测孔中心的晶振片形成电容器;在晶振片工作时,实时检测电容器的电容值;根据检测到的电容器的电容值,确定晶振片相对于检测孔中心的位置是否发生异常;在确定发生异常时,更换异常的晶振片。在进行材料蒸镀的过程中,通过检测由晶振片和金属电极板形成的电容器的电容值,可以实时监测晶振片的位置信息,从而可以及时更换位置异常的晶振片,避免由于晶振片偏离检测孔中心而引起蒸镀速率异常波动,可以提高产能和产品良率。
搜索关键词: 晶振片 电容器 蒸镀 电容 检测 金属电极板 相关装置 蒸镀设备 检测孔 产品良率 更换位置 偏离检测 实时监测 实时检测 孔中心 产能 平行
【主权项】:
1.一种蒸镀设备中晶振片位置的检测方法,其特征在于,包括:采用至少两个互不平行的金属电极板,与位于检测孔中心的晶振片形成电容器;在所述晶振片工作时,实时检测所述电容器的电容值;根据检测到的所述电容器的电容值,确定所述晶振片相对于所述检测孔中心的位置是否发生异常;在确定发生异常时,更换异常的所述晶振片。
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