[发明专利]一种新型三维集成封装结构在审
申请号: | 201810442806.4 | 申请日: | 2018-05-10 |
公开(公告)号: | CN108598062A | 公开(公告)日: | 2018-09-28 |
发明(设计)人: | 姚昕;明雪飞;吉勇 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
主分类号: | H01L23/498 | 分类号: | H01L23/498;H01L23/488;H01L23/49;H01L21/60;H01L25/00 |
代理公司: | 总装工程兵科研一所专利服务中心 32002 | 代理人: | 张婉 |
地址: | 214000*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明为一种简便、高效、能满足多功能需求的三维集成封装结构,该封装结构由若干个二维结构通过TSV转接板互连。二维封装结构包括芯片、TSV转接板、再布线层、键合丝、微凸点构成,芯片倒扣焊或者粘接在TSV转接板凹槽内,在所得结构表面设有再布线层,并且通过再布线层以及TSV转接板通孔金属材料实现芯片的信号互连。本发明通过芯片凸点或者引线键合与TSV转接板互连,形成一个整体,减小了封装体积。芯片通过TSV转接板可实现多层三维集成,集成度高,工艺简单,成品率高,提高生产效率。通过在TSV转接板可实现不同功能芯片多功能、系统级三维集成。 | ||
搜索关键词: | 封装结构 三维集成 芯片 再布线层 互连 二维结构 功能芯片 结构表面 金属材料 生产效率 信号互连 引线键合 成品率 集成度 键合丝 微凸点 系统级 倒扣 多层 二维 减小 通孔 凸点 粘接 封装 | ||
【主权项】:
1.一种新型三维集成封装结构的制作方法,其特征在于:A、根据芯片尺寸大小、芯片焊盘或凸点分布、电互连设计要求,设计制作TSV转接板圆片,TSV转接板圆片包含再布线层,再布线实现TSV转接板内部互连;B、在所述TSV转接板圆片背面上制作若干凹槽,所述凹槽尺寸、厚度与所述芯片尺寸、厚度相匹配;C、将芯片高精度倒扣焊在TSV转接板圆片凹槽中,芯片凸点与凹槽中TSV焊盘焊接互连;D、在所述TSV转接板圆片背面TSV焊盘上制作微凸点,最后切割,形成单颗的基于TSV技术的二维集成封装结构;E、所述二维集成封装结构通过TSV中填充金属实现芯片与TSV转接板互连集成,然后通过转接板微凸点实现多颗二维集成封装结构Z向堆叠集成,制成三维集成封装结构。
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