[发明专利]透射检查设备和检查方法在审
| 申请号： | 201810447365.7 | 申请日： | 2018-05-10 |
| 公开（公告）号： | CN108414546A | 公开（公告）日： | 2018-08-17 |
| 发明（设计）人： | 陈志强;吴万龙;丁富华;桑斌;郑志敏;丁光伟 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 孙纪泉 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开一种透射检查设备，该透射检查设备包括两个检查通道以及设置在两个检查通道之间的双扇束X光机。双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束，将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射，并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射，以便分别对两个检查通道内的被检目标进行透射扫描。两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角，使得两个检查通道内的透射扫描互不干扰。本发明还公开了利用上述透射检查设备对被检目标进行检查的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 检查通道 检查设备 透射 透射扫描 双扇 互不干扰 发射 张角 检查 | ||
【主权项】：
1.一种透射检查设备，包括两个检查通道以及设置在所述两个检查通道之间的双扇束X光机，其特征在于，所述双扇束X光机被构造成产生相互独立的两个X射线扇形束，将一个X射线扇形束向一个检查通道内发射，并且将另一个X射线扇形束向另一个检查通道内发射，以便分别对所述两个检查通道内的被检目标进行透射扫描；并且所述两个X射线扇形束的张角中心线形成一夹角，使得所述两个检查通道内的透射扫描互不干扰。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于同方威视技术股份有限公司，未经同方威视技术股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810447365.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
