[发明专利]一种显示基板及其检测方法、检测装置有效
申请号: | 201810449065.2 | 申请日: | 2018-05-11 |
公开(公告)号: | CN108598282B | 公开(公告)日: | 2021-02-26 |
发明(设计)人: | 王涛;谢春燕 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L51/52 | 分类号: | H01L51/52;H01L21/66 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 胡影;张博 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种显示基板及其检测方法、检测装置,显示基板包括显示区域和位于显示区域周边的周边区域,显示区域设置有显示元件,显示基板还包括覆盖显示元件的薄膜封装层,显示基板还包括:设置在周边区域的检测结构,检测结构在未被覆盖时接收光线并反射第一光线,检测结构在至少一部分被薄膜封装层覆盖时接收光线并反射第二光线,第一光线的光学参数与第二光线的光学参数不同。根据本发明的显示基板,能够准确地检测检测结构是否被覆盖,检测效率高,检测结果可靠,保证薄膜封装结构的实际封装信赖性,减少因检测不准确造成的影响,通过本发明的检测方法和检测装置能够准确检测有机材料是否溢流,效率高。 | ||
搜索关键词: | 一种 显示 及其 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种显示基板,包括显示区域和位于所述显示区域周边的周边区域,所述显示区域设置有显示元件,所述显示基板还包括覆盖所述显示元件的薄膜封装层,其特征在于,所述显示基板还包括:设置在所述周边区域的检测结构,所述检测结构在未被覆盖时接收光线并反射第一光线,所述检测结构在至少一部分被所述薄膜封装层覆盖时接收光线并反射第二光线,所述第一光线的光学参数与所述第二光线的光学参数不同。
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