[发明专利]一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法

摘要

本发明公开了一种TD‑LTE基站电磁辐射相关性检测方法，其步骤如下：通过建立TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式可获得无噪序列再将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入噪声滤除公式获得两个无噪序列再将两个无噪序列分别求平均获得和最后将获得的无噪序列以及无噪序列的平均值代入相关性表达式求得相关系数值p(x，y)。本发明分析了TD‑LTE基站电磁辐射相关性检测方法，考虑了电磁辐射噪声对不同时段基站电磁辐射相关性的影响，该方法能高效且精确的检测出TD‑LTE基站电磁辐射在不同时间段的相关系数值，具有一定的社会效益。

主权项

1.一种TD‑LTE基站电磁辐射相关性检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)、建立TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式，获得无噪序列其中：d＝      (4)c＝      (5)在上式(1)中，为基站电磁辐射强度时间序列f(t)的无噪序列，f(t)为基站电磁辐射强度时间序列，单位为V/m，t为时间，单位为小时，d为变化系数，c为尺度系数，<f(t)，Ψ(t)>为f(t)与Ψ(t)的函数内积，<f(t)，φ(t)>为f(t)与φ(t)的函数内积；2)、将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入步骤1)，获得两个无噪序列再将两个无噪序列分别求平均获得和其中，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，n取值为1,2,3,...,n，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n取值为1,2,3,...,n，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值；3)、将步骤2)中获得的代入相关性表达式求得相关系数值p_(x，y)：在上式中，p_(x，y)为相关系数值，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，n取值为1,2,3,...,n，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n取值为1,2,3,...,n，为TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值。