[发明专利]InGaN/GaN异质外延结构及其生长方法在审

专利信息
申请号: 201810460567.5 申请日: 2018-05-15
公开(公告)号: CN108598192A 公开(公告)日: 2018-09-28
发明(设计)人: 刘炜;赵德刚;陈平;刘宗顺;朱建军;江德生;杨静 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/0304 分类号: H01L31/0304;H01L31/0352;H01L33/06;H01L33/32
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤宝平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种InGaN/GaN异质外延结构及生长方法,外延结构包括:一衬底,该衬底的材料为蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓或砷化镓;一GaN层,其生长在衬底上;一InGaN有源区,其生长在GaN层上;一GaN层,其生长在InGaN有源区上。本发明可以将显著提高InGaN基太阳能电池的能量转换效率。
搜索关键词: 生长 衬底 异质外延 源区 能量转换效率 太阳能电池 外延结构 蓝宝石 氮化镓 砷化镓 碳化硅
【主权项】:
1.一种InGaN/GaN异质外延结构,包括:一衬底,该衬底的材料为蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓或砷化镓;一GaN层,其生长在衬底上;一InGaN有源区,其生长在GaN层上;一GaN层,其生长在InGaN有源区上。
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