[发明专利]一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置及方法在审
| 申请号： | 201810469611.9 | 申请日： | 2018-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN108593109A | 公开（公告）日： | 2018-09-28 |
| 发明（设计）人： | 张瑞;景宁;王志斌;李克武;解琨阳;陈媛媛 | 申请（专利权）人： | 中北大学 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人： | 申绍中 |
| 地址： | 030051*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及光谱测量领域领域，具体涉及一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置及方法，该装置通过在PEM前加两个相位延迟器，再通过PEM调制获得干涉信号，该方法使得目标光Stokes参量中不同元素的干涉信号在PEM调制光程差的不同位置，实现Stokes参量各元素干涉信号的分离，实现超高速全偏振光谱测量；该方法采用PEM实现超高速的干涉信号调制，实现Stokes参量I、Q、U、V四元素光谱的高速测量，使得目标光Stokes参量中不同元素的干涉信号在PEM调制光程差的不同位置；采用PEM高速调制的特点结合光谱强度调制，实现被测光Stokes参量I、Q、U、V四元素谱的高速全偏振测量；完成一次干涉信号测量所需时间优于5μs，如果进一步提高PEM的调制频率，测量时间还可以进一步加快。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉信号 偏振光谱 测量 测量装置 超高速 调制光 程差 光谱 调制 相位延迟器 调制频率 高速测量 高速调制 光谱测量 强度调制 全偏振 元素谱 测光 | ||
【主权项】：
1.一种基于PEM的高速全偏振光谱测量装置，其特征在于：该装置包括第一相位延迟器(1)、第二相位延迟器(2)、偏振器(3)、弹光调制器PEM(4)、检偏器(8)和探测器(9)组成，入射光依次通过第一相位延迟器(1)、第二相位延迟器(2)、偏振器(3)、弹光调制器PEM(4)和检偏器(8)，最终被探测器(9)探测；所述弹光调制器PEM(4)包括第一压电驱动器(5)、弹光调制晶体(6)和第二压电驱动器(7)。
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