[发明专利]一种单向NPN穿通型超低压TVS结构及其制备方法在审
申请号: | 201810473559.4 | 申请日: | 2018-05-17 |
公开(公告)号: | CN108899312A | 公开(公告)日: | 2018-11-27 |
发明(设计)人: | 薛维平;关世瑛;王金秋 | 申请(专利权)人: | 上海芯石半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/822 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 此发明为一种单向NPN穿通型超低压TVS结构及其制备方法,此TVS适用于保护超低驱动电压的半导体IC,随着半导体IC制造工艺最小线宽的不断缩小,半导体IC的驱动电压也变得越来越低,驱动电压从12V降低到5V,再到3.3V、2.5V,这就需要作为过压保护的TVS击穿电压也要相应降低,以便更好地保护半导体IC,当普通二极管TVS击穿电压低于5V后,齐纳击穿逐步代替雪崩击穿成为主要击穿形式,齐纳击穿的隧道效应导致漏电增大至1E‑5A水平,此时的二极管已经不能胜任IC过压保护工作,此发明的单向NPN穿通型TVS利用NPN晶体管的基区穿通特性,通过控制NPN晶体管基区的浓度及厚度,既能做到击穿电压低于5V,同时又能保证漏电低至1E‑9A水平,完全胜任超低压IC的过压保护工作。 | ||
搜索关键词: | 半导体IC 穿通 过压保护 击穿电压 超低压 击穿 二极管 漏电 驱动电压 基区 制备 低驱动电压 隧道效应 雪崩击穿 制造工艺 最小线宽 保证 | ||
【主权项】:
1.一种单向NPN穿通型超低压TVS结构,其结构包括:NPN区301、NP区302、DN隔离区303以及DN连通区304,A、NPN区301结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DP,DP里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,钝化层部分打开,其中,DP与衬底相连,SN与正面金属相连且通过正面金属与NP区302的SN相连;B、NP区302结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DP,DP里面包含SN和SP,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中,DP与衬底相连,SN与正面金属相连,且SN通过正面金属与NPN区301的SN相连,SP与正面金属相连,且SP通过正面金属与DN连通区304的SN相连,NP区302内的SN与SP不相连;C、DN隔离区303结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DN,DN里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中DN与衬底相连;D、DN连通区304结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DN,DN里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中DN与衬底相连,SN与正面金属相连,且通过正面金属与NP区302的SP相连。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的