[发明专利]一种单向NPN穿通型超低压TVS结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201810473559.4 申请日: 2018-05-17
公开(公告)号: CN108899312A 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 薛维平;关世瑛;王金秋 申请(专利权)人: 上海芯石半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/822
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201203 上海市浦东新区中国(上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明为一种单向NPN穿通型超低压TVS结构及其制备方法,此TVS适用于保护超低驱动电压的半导体IC,随着半导体IC制造工艺最小线宽的不断缩小,半导体IC的驱动电压也变得越来越低,驱动电压从12V降低到5V,再到3.3V、2.5V,这就需要作为过压保护的TVS击穿电压也要相应降低,以便更好地保护半导体IC,当普通二极管TVS击穿电压低于5V后,齐纳击穿逐步代替雪崩击穿成为主要击穿形式,齐纳击穿的隧道效应导致漏电增大至1E‑5A水平,此时的二极管已经不能胜任IC过压保护工作,此发明的单向NPN穿通型TVS利用NPN晶体管的基区穿通特性,通过控制NPN晶体管基区的浓度及厚度,既能做到击穿电压低于5V,同时又能保证漏电低至1E‑9A水平,完全胜任超低压IC的过压保护工作。
搜索关键词: 半导体IC 穿通 过压保护 击穿电压 超低压 击穿 二极管 漏电 驱动电压 基区 制备 低驱动电压 隧道效应 雪崩击穿 制造工艺 最小线宽 保证
【主权项】:
1.一种单向NPN穿通型超低压TVS结构,其结构包括:NPN区301、NP区302、DN隔离区303以及DN连通区304,A、NPN区301结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DP,DP里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,钝化层部分打开,其中,DP与衬底相连,SN与正面金属相连且通过正面金属与NP区302的SN相连;B、NP区302结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DP,DP里面包含SN和SP,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中,DP与衬底相连,SN与正面金属相连,且SN通过正面金属与NPN区301的SN相连,SP与正面金属相连,且SP通过正面金属与DN连通区304的SN相连,NP区302内的SN与SP不相连;C、DN隔离区303结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DN,DN里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中DN与衬底相连;D、DN连通区304结构包括:背面金属上面是衬底,衬底上面是外延层,衬底和外延层里面包含DN,DN里面包含SN,外延层上面是SiO2层,SiO2层部分打开,SiO2层上面是正面金属,正面金属部分打开,正面金属上面是钝化层,其中DN与衬底相连,SN与正面金属相连,且通过正面金属与NP区302的SP相连。
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