[发明专利]一种基于双重公差原则的同轴度的评定方法在审

专利信息
申请号: 201810477405.2 申请日: 2018-05-18
公开(公告)号: CN108680129A 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 黄美发;唐哲敏;钟艳茹;孙永厚;黄用华;陈磊磊;彭志国;李祖裕;刘光浩 申请(专利权)人: 桂林电子科技大学
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 541004 广西*** 国省代码: 广西;45
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于精密计量与计算机应用领域,具体涉及一种稳定、快速、形式简单的基于双重公差原则的同轴度评定方法。本发明包含以下步骤:步骤1,用待测零件的测点构造多个参数矩阵,来描述待测零件的几何误差;步骤1.1,决定分析基准段还是被测段;步骤1.2,融合基准段和被测段的参数矩阵;步骤2,加入一个关键点;步骤3,用关键点集构造分析矩阵;步骤4,对分析矩阵进行分析,决定是否继续寻优,并决定寻优策略;步骤5,计算寻优方向;步骤6,决定是否产生新的关键点,需要的话产生一个新的关键点,并更新部分参数矩阵;步骤7,计算并判断待测零件的基于双重公差原则的同轴度是否合格。
搜索关键词: 关键点 参数矩阵 待测零件 公差 同轴度 寻优 矩阵 测段 计算机应用领域 评定 构造分析 几何误差 精密计量 分析 测点 融合 更新
【主权项】:
1.一种基于双重最大实体要求的同轴度的评定方法,其特征在于,由以下步骤组成:步骤1:获取基准段的测点,并用其组成测点集{pi},并根据{pi}建立特征行向量集{Ai}、边界元素集{bi}和状态元素集{ti};获取被测段的测点,并用其组成被测测点集{p’j},并根据{p’j}建立被测状态元素集{t’j},被测特征行向量集{A’j};其中:i=1, 2, 3, …, N;i为测点序号,N为基准段的测点总数;pi={xi, yi, zi}是测点i的空间直角坐标,并且基准圆柱体的轴线接近坐标系的z轴,基准圆柱体的两个底面的中心平面接近坐标系的XOY平面;ti=,所有的状态元素ti的集合为状态元素集{ti};Ai=([xi, yi, ‑yizi, xizi])/ti,是一个特征行向量,所有的特征行向量Ai的集合为特征行向量集{Ai};bi=b,是一个大于0的实数,所有的边界元素bi的集合为边界元素集{bi};j=N+1, N+2, …, N+M;j为被测段测点序号,从N+1开始计数,M为被测段的测点总数;p’j={xj, yj, zj}是测点j的空间直角坐标;tj=,所有的状态元素tj的集合为测点状态元素集{tj};A’j=([xj, yj, ‑yjzj, xjzj])/t’j,是一个被测特征行向量,所有的被测特征行向量Aj的集合为被测特征行向量集{A’j};步骤1结束后进行步骤1.1;步骤1.1:判断是否在下一步将被测段测点加入到评定中;如果被测段测点尚未加入测点集{pi},并且2min ti ≥ DD,那么进行步骤1.2,否则,进行步骤2;其中, DD =DD,N+ tD,m ‑ tD,DD是基准圆柱体的虚拟边界尺寸,DD,N是基准圆柱体的名义尺寸,tD,m是基准圆柱体的下偏差,tD是基准圆柱体的几何公差;步骤1.2:将被测段测点集{ p’j }加入测点集{ pi }中,并扩充特征行向量集{ Ai }、边界元素集{ bi },其中:扩充测点集{ pi },当i= j= N+1, N+2, N+3…N+M时,pi =p’j;扩充特征行向量集{Ai},当i= j= N+1, N+2, N+3…N+M时,Ai= A’j;扩充和更新边界元素集{bi},当i=1, 2, 3… N时,bi=0;当i= N+1, N+2, N+3…N+M时,bi=b,b是一个大于0的实数;所有的边界元素bi的集合更新为边界元素集{bi};步骤2:将一个关键点的测点序号加入到关键点集{l}中;如果未进行过步骤6,那么,取状态元素集{ti}的最小值tmin对应的测点pl1为关键点,并将其测点序号l1加入到关键点集{l}中;之后,如果步骤6产生了一个关键点pl2,那么,关键点pl2将取代测点pl1,其测点序号l2加入到关键点集{l}中;之后,如果被测段测点集{ p’j }首次加入到测点集{ pi }中,那么,取j= N+1, N+2, N+3…N+M时的被测状态元素集{t’j}的最小值t’min对应的测点pl3为关键点,并将其测点序号l3加入到关键点集{l}中;步骤2结束后进行步骤3;步骤3:根据关键点集{l}建立分析矩阵A和分析列向量b,其中:A=[…, ApT, …, AqT, …]T,是个L行4列的矩阵,L为关键点集{l}中的元素个数,p, q为关键点集{l}中的元素;b=[…, bp, …, bq, …]T,是个L行的列向量;步骤3结束后进行步骤4;步骤4:对分析矩阵A及增广分析矩阵[A, b]进行秩分析;计算分析矩阵A的秩rA=rank(A),增广分析矩阵[A, b] 的秩rAb=rank([A, b]),并比较rA和rAb,只有以下两种情况:情况一:如果rA=rAb,那么,应当继续寻优,跳到步骤5;情况二:如果rA< rAb,那么,尝试从分析矩阵A和分析列向量b中删掉关键点集{l}中的某一个元素l对应的行,得到缩小矩阵Al‑和缩小列向量bl‑,求线性方程Al‑vl‑= bl‑的解vl‑=vl‑0,然后计算bl‑=Alvl‑0;如果关键点集{l}中的元素都尝试过了,并且没有得到任何一个bl‑>bl,那么,应当结束寻优,跳到步骤7;如果在尝试关键点集{l}中的元素l时,得到bl‑>bl,那么,将缩小矩阵Al‑和缩小列向量bl‑分别作为A矩阵及分析列向量b,将元素l移出关键点集{l},并跳到步骤5;其中,vl‑=[vl‑,1, vl‑,2, vl‑,3, vl‑,4]T,vl‑0=[vl‑0,1, vl‑0,2, vl‑0,3, vl‑0,4]T;步骤5:求测点运动向量v0,即线性方程Av= b的一个解v=v0,其中,v=[v1, v2, v3, v4]T, v0=[v0,1, v0,2, v0,3, v0,4]T;步骤5结束后进行步骤6;步骤6:以追及问题求新的关键点,更新被测圆柱测点的状态;如果被测段测点集{ p’j }尚未加入到测点集{ pi }中,按步骤6.1求新的关键点并更新被测圆柱测点的状态;如果被测段测点集{ p’j }已经加入到测点集{ pi }中,按步骤6.2求新的关键点并更新被测圆柱测点的状态;步骤6.1:首先,计算测点法向线速度vk:当k=1, 2,… N时,vk=Akv0;当k= N+1, N+2,…N+M时,vk=A’kv0;然后,计算状态元素集{ti}的最小值tmin,tmin=min ti|i=1, 2, … N;然后,计算基准段各测点的动态追及时间τi,τi=( ti– tmin)÷(bi‑ vi) |i=1, 2, … N;然后,计算基准段各测点的静态追及时间τD:τD=(0.5DD–tmin) ÷bi;然后,决策关键点:先从动态追及时间τi中大于零的那部分中的最小值τmin对应的测点中任选一个为关键点pl2;之后,如果静态追及时间τD小于等于τmin,那么,取消关键点pl2,并令τmin=τD;之后,如果有某些测点,其ti–tmin =0且bi‑ vi >0且测点不在当前的关键点集{l}中,那么,任选其中一个测点为关键点pl2,并令τmin=0;最后,将所有ti更新为ti+ τmin∙ vi| i=1, 2, … N,然后将tmin更新为min ti |i=1, 2, … N;将所有t’j更新为t’j+ τmin∙ vj| j=N+1, N+2, … N+M;步骤6.2:首先,计算测点法向线速度vi:vi =Aiv0| i=1, 2 … N+M;然后,计算被测状态元素集{t’j}的最小值t’min,t’min =min t’j| j= N+1, N+2, … N+M;然后,计算被测段各测点的动态追及时间τj,τj=( t’j–t’min)÷(bj– vj) | j= N+1, N+2, … N+M;然后,计算基准段各测点的静态追及时间τD,i:τD,i=(0.5DD–ti)÷vi |i=1, 2, … N;然后,决策关键点:先从被测段各测点的动态追及时间τi中大于零的那部分中的最小值τmin对应的测点中任选一个为关键点pl2;之后,如果基准段各测点的静态追及时间τD,i中大于零的那部分中的最小值τD,min小于τmin,那么,任选其中一个对应的测点为关键点pl2,并令τmin=τD,min;之后,如果有某些测点,其(0.5DD–ti =0且vi <0) |i=1, 2, … N或(t’j–t’min =0且bj– vj >0)| j= N+1, N+2, … N+M,且测点不在当前的关键点集{l}中,那么,任选其中一个测点为关键点pl2,并令τmin=0;将所有ti更新为ti+τmin∙ vi| i=1, 2, … N,然后将tmin更新为min ti |i=1, 2, … N;将所有t’j更新为t’j+ τmin∙ vj| j=N+1, N+2, … N+M;步骤6.1或步骤6.2结束后完成一次寻优,进行步骤1.1;步骤7:如果被测段测点集{ p’j }尚未加入到测点集{ pi }中,那么,被检验的圆柱体不符合基于双重公差原则的同轴度要求,其基准圆柱体的基于相应公差原则的实效尺寸为2 tmin,其被测圆柱体的基于同轴度的实效尺寸为2min t’j | j=N+1, N+2, … N+M;如果被测段测点集{ p’j }已经加入到测点集{ pi }中,那么,被测圆柱体的极限实效尺寸为DC=2min t’j | j=N+1, N+2, … N+M;如果DC≥ DC,N+ tC,m ‑ tC,且圆柱体的尺寸通过当前技术检验合格,那么,被检验的圆柱体符合基于双重公差原则的同轴度要求;如果DC< DC,N+ tC,m ‑ tC,那么,被检验的圆柱体不符合基于双重公差原则的同轴度要求;其中:DC是被测轴的虚拟边界尺寸,DC,N是被测圆柱体的名义尺寸,tC,m是被测圆柱体的下偏差,tC是被测圆柱体的几何公差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桂林电子科技大学,未经桂林电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201810477405.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top