[发明专利]薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板、显示装置在审

专利信息
申请号: 201810480065.9 申请日: 2018-05-18
公开(公告)号: CN108682692A 公开(公告)日: 2018-10-19
发明(设计)人: 李小龙;白金超;郭会斌;韩笑;宋勇志 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L29/417;H01L21/336;H01L27/12
代理公司: 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 代理人: 申健
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例公开一种薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板、显示装置,涉及显示技术领域,用于提高TFT沟道的制作精度。所述薄膜晶体管包括源漏极;该源漏极包括金属基底以及覆盖金属基底的致密导电层,致密导电层的致密性大于金属基底的致密性。所述制作方法包括:提供一衬底基板,衬底基板上形成有薄膜晶体管的有源层;在有源层背向衬底基板的表面依次沉积金属基底和致密导电层,致密导电层的致密性大于金属基底的致密性;依次对致密导电层和金属基底进行光刻,由光刻处理后的金属基底和致密导电层形成薄膜晶体管的源漏极。本发明实施例提供的薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板、显示装置用于窄沟道的薄膜晶体管。
搜索关键词: 薄膜晶体管 致密 金属基 导电层 致密性 衬底基板 显示装置 阵列基板 源漏极 制作 源层 导电层形成 沉积金属 光刻处理 窄沟道 光刻 基底 覆盖
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管,其特征在于,包括源漏极,所述源漏极包括金属基底以及覆盖所述金属基底的致密导电层;所述致密导电层的致密性大于所述金属基底的致密性。
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