[发明专利]一种碳化硅深沟槽超结SBD器件及制备方法在审

专利信息
申请号: 201810494560.5 申请日: 2018-05-22
公开(公告)号: CN111653626A 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 袁俊;黄兴;徐妙玲;倪炜江;耿伟 申请(专利权)人: 北京世纪金光半导体有限公司
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/06;H01L21/329
代理公司: 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 代理人: 张永革
地址: 100176 北京市大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种具有深沟槽和侧壁注入的碳化硅超结SBD器件元胞结构,所述元胞结构的N‑外延层中设置有若干个深沟槽,深沟槽的侧壁及底部注入或二次外延工艺构造一圈P Plus,然后在深沟槽的底部填入High‑K介质或SiO2,然后上部的其余部分中填入P型掺杂的多晶硅或金属,并与肖特基区的肖特基接触金属相连,填充的金属部分与侧壁也构成肖特基接触。本申请通过在碳化硅SBD器件元胞中结合深沟槽结构和与其相连P Plus结构,构造出一种新颖的超结器件,能避免传统超结结构的深注入或多次外延工艺的难度,进一步降低器件正向导通损耗,增强SBD器件的耐压能力,可靠性和抗干扰能力。
搜索关键词: 一种 碳化硅 深沟 槽超结 sbd 器件 制备 方法
【主权项】:
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