[发明专利]用于接合半导体装置的方法有效

专利信息
申请号: 201810495733.5 申请日: 2018-05-22
公开(公告)号: CN109860066B 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 蔡延佐;廖鄂斌;田馥纲;陈佳吟;邱文智;薛仰志 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/60 分类号: H01L21/60;H01L21/66;H01L21/02
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 顾伯兴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种用于接合半导体装置的方法和设备。在实施例中,所述方法可包含:将第一管芯附接到倒装模块的倒装头,使用倒装模块倒装第一管芯,在倒装第一管芯之后从倒装模块去除第一管芯,在去除第一管芯之后检查倒装模块的倒装头是否污染,在检查倒装头之后使用就地清洁模块来清洁倒装头,以及在清洁倒装头之后将第二管芯附接到倒装头。
搜索关键词: 用于 接合 半导体 装置 方法
【主权项】:
1.一种用于接合半导体装置的方法,包括:将第一管芯附接到倒装模块的倒装头;使用所述倒装模块倒装所述第一管芯;在所述翻转所述第一管芯之后,从所述倒装模块去除所述第一管芯;在所述去除所述第一管芯之后,检查所述倒装模块的所述倒装头是否受污染;在所述检查所述倒装头之后,使用就地清洁模块清洁所述倒装头;以及在所述清洁所述倒装头之后,将第二管芯附接到所述倒装头。
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