[发明专利]测量设备及其控制方法在审
| 申请号： | 201810503496.2 | 申请日： | 2018-05-23 |
| 公开（公告）号： | CN110187253A | 公开（公告）日： | 2019-08-30 |
| 发明（设计）人： | 卢克·西里洛;安德里亚斯·拉格勒 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华;李欣 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量设备及其控制方法。该测量设备(10)包括被配置为显示测量轨迹的显示器(11)、被配置为基于至少一个目标测量参数分析由测量轨迹表示的测量数据的子集的分析单元(12)以及被配置为搜索所述至少一个目标测量参数后处理单元(13)。 | ||
| 搜索关键词： | 测量设备 测量轨迹 目标测量 配置 后处理单元 参数分析 测量数据 分析单元 子集 显示器 搜索 | ||
【主权项】：
1.一种用于控制测量设备的方法，所述方法包括以下步骤：在所述测量设备的显示器上显示测量轨迹，基于至少一个目标测量参数分析由所述测量轨迹表示的测量数据的子集，以及搜索所述至少一个目标测量参数。
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