[发明专利]用于校准至少一个传感器的方法在审
| 申请号： | 201810507973.2 | 申请日： | 2018-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN108931292A | 公开（公告）日： | 2018-12-04 |
| 发明（设计）人： | B.康宁;K.H.鲍姆格特 | 申请（专利权）人： | 赫拉胡克两合公司 |
| 主分类号： | G01H11/08 | 分类号： | G01H11/08;G01R29/22 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 姬亚东;刘春元 |
| 地址： | 德国利*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于校准至少一个传感器的方法，在用于校准至少一个传感器的方法中，其中该传感器具有至少一个具有至少一个电极的压电元件，并且其中至少一个电极被构造为测量电极，根据本发明规定：将激励电压施加到压电元件的至少一个另外的被构造为校准电极的电极上，以用于产生压电元件的机械变形，利用至少一个测量电极检测由压电元件的变形所引起的电压，并且比较施加的激励电压和检测的电压。 | ||
| 搜索关键词： | 压电元件 电极 校准 传感器 测量电极 激励电压 施加 机械变形 检测 变形 | ||
【主权项】：
1.一种用于校准至少一个传感器的方法，其中所述传感器具有至少一个具有至少一个电极的压电元件（2），并且其中至少一个电极被构造为测量电极（3），其特征在于：将激励电压施加到压电元件（2）的至少一个另外的被构造为校准电极（4）的电极上，以用于产生压电元件（2）的机械变形，利用至少一个测量电极（3）检测由压电元件（2）的变形所引起的电压，比较施加的激励电压和检测的电压，计算在校准电极（4）和测量电极（3）之间形成的电场，以及电场的计算进入到校准因子的计算中。
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