[发明专利]梯度线圈的匀场方法和装置有效
| 申请号： | 201810509890.7 | 申请日： | 2018-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN108802644B | 公开（公告）日： | 2020-09-15 |
| 发明（设计）人： | 陶红艳 | 申请（专利权）人： | 上海东软医疗科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/385 | 分类号： | G01R33/385 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 林祥 |
| 地址： | 200241 上海市闵*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种梯度线圈的匀场方法，包括：向梯度线圈输入直流信号；根据梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量；根据偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；根据设置参数在匀场条中设置匀场片，以及将匀场条插入梯度线圈；通过所场架测量匀场指标。根据本发明的实施例，通过确定匀场架在多个方向上的偏移量，并根偏移量调整了预定的计算模型，进而根据调整后的计算模型可以更加准确地计算每个匀场片的设置参数，使得后续设置的匀场片更加合理，从而测量的匀场指标更容易满足需要，以便减少测试次数，不紧可以节约时间，还可以减少液氦的挥发，节省费用。 | ||
| 搜索关键词： | 梯度 线圈 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种梯度线圈的匀场方法，其特征在于，包括：向梯度线圈输入直流信号，其中，所述梯度线圈待被插入多个匀场条，在每个所述匀场条中设置有多个匀场片；根据所述梯度线圈产生的磁场，确定匀场架在多个方向上的偏移量；根据所述偏移量调整预定的计算模型，根据调整后的计算模型计算每个所述匀场片的设置参数；根据所述设置参数在所述匀场条中设置匀场片，以及将所述匀场条插入所述梯度线圈；通过所述匀场架测量匀场指标。
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