[发明专利]优化电容阵列面积的SAR ADC比较电路及其开关控制方法在审
| 申请号： | 201810520144.8 | 申请日： | 2018-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN108809314A | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 徐代果;胡刚毅;李儒章;王健安;陈光炳;付东兵;王育新;徐世六;冯治华 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
| 主分类号： | H03M1/38 | 分类号： | H03M1/38;H03M1/00 |
| 代理公司： | 重庆辉腾律师事务所 50215 | 代理人： | 王海军 |
| 地址： | 400060 *** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种优化电容阵列面积的SAR ADC比较电路及其开关控制方法，属于模拟或数模混合集成电路技术领域。包括采样开关S0、电容阵列、开关阵列、正电阻串阵列、负电阻串阵列和比较器；所述电容阵列由n个容值相同的单位电容构成，所述开关阵列由n‑1个一刀双掷开关构成，为序号1～n‑1单位电容的下极板提供电位切换；正、负电阻串阵列分别为序号1～n‑1的单位电容下极板提供正、负基准电压；所有单位电容的上级板接比较器的“‑”输入端，序号0的单位电容下级板接地，n表示逐次逼近型模型模数转换器的量化精度。本发明可以极大程度上减小了SAR ADC的电容阵列面积，SAR ADC芯片面积明显减小，明显降低了芯片的制造成本。 | ||
| 搜索关键词： | 单位电容 电容阵列 开关控制 开关阵列 比较器 负电阻 下极板 减小 数模混合集成电路 负基准电压 模数转换器 逐次逼近型 采样开关 电位切换 双掷开关 制造成本 接地 输入端 正电阻 优化 量化 芯片 下级 | ||
【主权项】：
1.一种优化电容阵列面积的SAR ADC比较电路，其特征在于：包括采样开关S0、电容阵列、开关阵列、正电阻串阵列、负电阻串阵列和比较器；所述电容阵列由n个容值相同的单位电容构成，所述开关阵列由n‑1个一刀双掷开关构成，为序号1～n‑1单位电容的下极板提供电位切换；正、负电阻串阵列均包括多个串联的单位电阻，正电阻串阵列的一端接地，另一端接使能开关后再接峰值电压VP，负电阻串阵列一端接地，另一端接使能开关后再接入谷值电压VN，VP＝‑VN；正、负电阻串阵列分别为序号1～n‑1的单位电容下极板提供正、负基准电压；所有单位电容的上级板接比较器的“‑”输入端，比较器的“+”输入端接地，序号0的单位电容下级板接地，n表示逐次逼近型模型模数转换器的量化精度。
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