[发明专利]电子部件处理系统有效

专利信息
申请号: 201810529881.4 申请日: 2016-02-25
公开(公告)号: CN108550543B 公开(公告)日: 2022-03-11
发明(设计)人: 申熙泽;金亨根 申请(专利权)人: 泰克元有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/677
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 李盛泉;孙昌浩
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开电子部件处理系统,包括:贴标装置,给被分成个别单件的电子部件贴上标签,将贴有标签的电子部件载置到第二测试托盘;测试装置,对来自贴标装置的第二测试托盘所载置的电子部件进行第二测试;分类装置,卸载来自测试装置的第二测试托盘所载置的电子部件,并根据测试结果进行分类,其中,第二测试托盘从贴标装置经过测试装置而被移送至分类装置,在分类装置卸载完所载置的电子部件的空的第二测试托盘从分类装置经过测试装置被移送至贴标装置。根据本发明,通过在标签装置、测试装置以及分类装置之间相互共用第二测试托盘等,使装置彼此连接而完成一个系统,据此在电子部件的处理中多个部分实现自动化,从而大幅提高生产效率。
搜索关键词: 电子 部件 处理 系统
【主权项】:
1.一种电子部件处理系统,其特征在于,包括:贴标装置,给电子部件贴上标签,将贴有标签的电子部件载置到第二测试托盘;测试装置,收容来自所述贴标装置的第二测试托盘,对载置于第二测试托盘的电子部件进行第二测试;分类装置,收容来自所述测试装置的第二测试托盘之后,卸载第二测试托盘所载置的电子部件,并根据测试结果进行分类的同时分别载置到专门的多个托盘,其中,所述分类装置将卸载完所载置的电子部件的空的第二测试托盘移送至所述测试装置,所述测试装置将来自所述分类装置的空的第二测试托盘移送至所述贴标装置,从而第二测试托盘实现为沿着按所述贴标装置、所述测试装置以及所述分类装置的顺序移动之后从所述分类装置向所述测试装置、所述贴标装置移动的循环路径进行循环移动,据此在所述贴标装置、测试装置以及分类装置之间能够相互共用第二测试托盘。
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