[发明专利]医疗设备中光探测器及其检测方法、装置及计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201810532119.1 | 申请日： | 2018-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN108703765B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 刘颖彪;雷小文 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00 |
| 代理公司： | 北京汇思诚业知识产权代理有限公司 11444 | 代理人： | 王刚;龚敏 |
| 地址： | 201807 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种医疗设备中光探测器及其检测方法、装置及计算机可读存储介质，涉及医疗技术领域，能够基于光探测芯片的衰减效应确定其是否产生损伤，进而可以对损伤的光探测芯片做出相应处理，以提高医疗设备的成像质量。其中，光探测器包含至少一个光探测模块，每个光探测模块包含至少一个光探测芯片，具体光探测器检测方法包括：采集各个光探测芯片在光源停止照射前后指定时长内的感光响应数据；根据感光响应数据，判断各个光探测芯片的衰减指标参数是否满足预设要求；当判断出任一个光探测芯片的衰减指标参数未满足预设要求时，确定该光探测芯片产生损伤。本发明实施例提供的技术方案适用于基于光探测器成像的医疗设备的检测过程中。 | ||
| 搜索关键词： | 医疗 设备 探测器 及其 检测 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种医疗设备中光探测器的检测方法，光探测器包含至少一个光探测模块，每个所述光探测模块包含至少一个光探测芯片，其特征在于，所述方法包括：采集各个光探测芯片在光源停止照射前后指定时长内的感光响应数据；根据所述感光响应数据，判断各个光探测芯片的衰减指标参数是否满足预设要求；当判断出任一个光探测芯片的衰减指标参数未满足预设要求时，确定该光探测芯片产生损伤。
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