[发明专利]一种incell产品银浆导通测试方法在审

专利信息
申请号: 201810532661.7 申请日: 2018-05-29
公开(公告)号: CN108711393A 公开(公告)日: 2018-10-26
发明(设计)人: 魏镜贤;骆志锋;卢建灿;夏明星 申请(专利权)人: 深圳同兴达科技股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 谭雪婷;高早红
地址: 518000 广东省深圳市龙华新*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开一种incell产品银浆导通测试方法,通过在显示模组上设置银浆点并测量所述银浆点与FPC上的GND之间的电阻来测试银浆是否导通。本发明的方法可以确切测试银浆是否导通,提升了良品率,避免了不良品流入客户端。
搜索关键词: 银浆 导通测试 银浆点 导通 测试 显示模组 不良品 客户端 良品率 电阻 测量
【主权项】:
1.一种incell产品银浆导通测试方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:步骤1,提供一显示模组,所述显示模组一侧点有第一银浆和第二银浆,所述第一银浆从偏光片侧面延伸至TFT基板上的导电区域,所述第二银浆设于所述偏光片侧面中部上;步骤2,提供一用于测量电阻的测量设备,将测量设备的一根表笔与在显示模组的FPC上的GND线接触,将测量设备的另一根表笔与所述第二银浆接触;步骤3,读取测量设备的测试结果,如果测量设备的显示屏上显示有电阻值,发出“滴滴”的声音,则判断为银浆导通,产品OK;如果测量设备的显示屏无反应且未发出声音,则银浆未导通,产品NG。
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