[发明专利]一种阵列磁体组合式进样装置

摘要

本发明公开了一种阵列磁体组合式进样装置，使用多个磁体同向组合形成阵列式排布，在相邻两个磁体之间安装样品插片形成多个进样位置。进样装置采用四方框形状的支撑框架结构，磁体和样品插片分别通过磁体孔和插片孔安装到支撑框架中。磁体安装时南极朝着同一个方向排列，相邻磁体之间用连接片相连，确保所有样品同时处于磁场分布较均匀的区域。通过驱动工作台对进样装置进行一维平移操作，即可对安装的所有样品进行批量化测试。本发明的阵列磁体组合式进样装置解决了多个样品磁场同步施加的问题，能够实现批量材料样品在外磁场条件下的微观结构测试，适用于磁性材料无损分析的批量化测试实验环节，避免了复杂操作和频繁换样，提高了测试效率。

主权项

1.一种阵列磁体组合式进样装置，其特征在于：所述的进样装置包括支撑框架（1）、磁体（2）、连接片（5）和样品插片（6），所述的支撑框架（1）为四方框形状，四方框顶部的顶板开有多组磁体孔（12）和插片孔（13），每组磁体孔（12）和插片孔（13）包括一个磁体孔（12）和一个插片孔（13），各组磁体孔（12）和插片孔（13）串列排列，每个磁体孔（12）内插入一个磁体（2），盖板（10）通过固定螺丝（11）固定在四方框顶部，用于固定磁体（2）的位置，各个磁体（2）之间的下部通过连接片（5）连接，各个磁体（2）之间的上部和中间留有空隙，多个样品插片（6）分别通过盖板（10）上的插片孔（13）插入空隙中。