[发明专利]一种制备Cu掺杂稀磁半导体薄膜的方法在审

专利信息
申请号: 201810560499.X 申请日: 2018-06-04
公开(公告)号: CN108642462A 公开(公告)日: 2018-10-12
发明(设计)人: 沈洪雪;姚婷婷;杨勇;李刚 申请(专利权)人: 中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/22;C23C14/58;C23C14/14;C23C14/06;H01F41/18
代理公司: 安徽省蚌埠博源专利商标事务所 34113 代理人: 陈俊
地址: 233010 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开一种制备Cu掺杂稀磁半导体薄膜的方法,包括以下步骤:S1、清洗衬底,去除衬底表面油污和杂质;S2、采用离子束沉积设备与磁控溅射设备,衬底置于离子束沉积设备的真空腔室内,通过离子束在衬底表面沉积Cu层;S3、沉积有Cu层的衬底转入磁控溅射设备的真空腔室内,采用Al靶为溅射靶材,工作气体Ar,反应气体N2,在Cu层表面溅镀AlN层,得到复合薄膜;S4、加热磁控溅射设备放置衬底的样品台至500℃,对步骤S3得到的复合薄膜退火处理,最终得到Cu掺杂稀磁半导体薄膜;本方法工艺简单,可控性、操作性强;利用样品台加热系统对样品进行加热,达到对掺杂Cu进行在薄膜中进行再均匀化分布的作用,同时可以提高整个薄膜的结晶质量。
搜索关键词: 衬底 稀磁半导体薄膜 磁控溅射设备 掺杂 离子束沉积 衬底表面 复合薄膜 样品台 真空腔 沉积 制备 加热 薄膜 室内 反应气体 工作气体 加热系统 溅射靶材 退火处理 均匀化 可控性 离子束 油污 溅镀 去除 清洗 转入
【主权项】:
1.一种制备Cu掺杂稀磁半导体薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、清洗衬底,去除衬底表面油污和杂质;S2、采用离子束沉积设备与磁控溅射设备,衬底置于离子束沉积设备的真空腔室内,通过离子束在衬底表面沉积Cu层;S3、沉积有Cu层的衬底转入磁控溅射设备的真空腔室内,采用Al靶为溅射靶材,工作气体Ar,反应气体N2,在Cu层表面溅镀AlN层,得到复合薄膜;S4、加热磁控溅射设备放置衬底的样品台至500℃,对步骤S3得到的复合薄膜退火处理,最终得到Cu掺杂稀磁半导体薄膜。
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