[发明专利]一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法在审
| 申请号： | 201810565491.2 | 申请日： | 2018-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN109030419A | 公开（公告）日： | 2018-12-18 |
| 发明（设计）人： | 闫东鹏;陈明星 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01N21/47 | 分类号： | G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京太兆天元知识产权代理有限责任公司 11108 | 代理人： | 梁青红 |
| 地址： | 100875 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件、积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的绝对量子产率；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置；所述固体样品位于所述控温部件中，光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。本发明提供的方法测定速度快，效率高，测量误差小，可得到固体在低温和变温条件下发光效率特征，同时拓展了变温绝对量子产率在发光，照明，显示和生物成像等领域的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 变温 积分球 产率 量子 控温部件 发光 光谱仪 固体样品 测量 宽幅 狭缝 光纤 电加热温度控制 测试装置 发光效率 光谱测定 光学耦合 激发波长 漫反射光 设置参数 生物成像 温度条件 电制冷 漫反射 导出 光孔 反射 发射 激发 拓展 应用 | ||
【主权项】：
1.一种宽幅变温固态发光绝对量子产率测量方法，其特征在于，使用变温积分球光学耦合测试装置，包括:控温部件，用于控制固体样品的温度范围内变化；积分球，光通过积分球上的光孔打在样品上，反射到积分球中进行漫反射后经过光纤导出；光纤，连接积分球和光谱仪，漫反射光通过变温光谱测定，得到固体样品在不同温度条件下的光学参数测量；所述控温部件包括电制冷和电加热温度控制装置，位于积分球开口处正下方1‑2mm，控制固体样品的温度范围为4K‑500K；所述固体样品位于所述控温部件中，是粉末或薄膜样品；光谱仪的设置参数为激发波长为300至380纳米，激发狭缝为5至20纳米，发射狭缝为5至20纳米。
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