[发明专利]一种基于双目测距算法的光轴平行度校正方法有效

专利信息
申请号: 201810569328.3 申请日: 2018-06-05
公开(公告)号: CN109084959B 公开(公告)日: 2020-10-02
发明(设计)人: 张俊举;冯英旺;向汉林;朱凯;沈玉姣;严松;周园松;陈军 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 马鲁晋
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于双目测距算法的光轴平行度校正方法,包括以下步骤:首先将待校正双路光学系统固定于调整台架上;然后采集特征目标在双路光学系统中的左、右视场图像;之后调节调整台架使得光学系统的两个光轴水平共面;之后再次采集特征目标在双路光学系统中的左、右视场图像;然后利用双目测距算法获取特征目标的实际水平视差;再对特征目标进行测距,并利用双目测距算法求取特征目标的理想水平视差;最后比较上述两种视差,若两者不等,对光学系统的光轴进行调整,直至两种视差一致,完成光学系统光轴平行度校正。本发明的方法对光学系统光轴平行度校正效果好,精度高,能有效提高多轴光学系统的光轴平行度,且提高光轴校准的便捷性。
搜索关键词: 一种 基于 双目 测距 算法 光轴 平行 校正 方法
【主权项】:
1.一种基于双目测距算法的光轴平行度校正方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、将待校正双路光学系统的两个光路分别固定于调整台架上;步骤2、对特征目标I进行图像采集,获得特征目标I在左、右视场中的图像分别为左视图像A、右视图像B;步骤3、根据左视图像A、右视图像B对所述调整台架进行调节,使得所述待校正双路光学系统的两个光轴水平共面;步骤4、利用步骤3调整后的待校正双路光学系统对特征目标I进行图像采集,获得特征目标I在左、右视场中的图像分别为左视图像C、右视图像D;步骤5、利用双目测距算法对左视图像C、右视图像D进行处理,获得特征目标I在左视图像C、右视图像D中的实际水平视差△x1;步骤6、对特征目标I进行测距,获得特征目标I的实际距离L;利用双目测距算法求取特征目标I在所述待校正双路光学系统两个光轴完全平行时左视图像E、右视图像F中的理想水平视差△x;步骤7、判断步骤5获得的实际水平视差△x1与步骤6获得的理想水平视差△x是否存在偏差,若存在偏差,则执行步骤8;否则结束待校正双路光学系统光轴平行度校正;步骤8、对所述待校正双路光学系统中两个光路的光轴进行调整,直至实际水平视差△x1与理想水平视差△x一致,完成待校正双路光学系统光轴平行度校正。
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