[发明专利]一种校正二极排列非无穷远点影响的方法

摘要

一种校正二极排列非无穷远点影响的方法。开展二极排列电法勘探时由于布置无穷远点的代价过大，而采用非无穷远点替代无穷远点，故需要对二极排列的勘探数据中的非无穷远点的影响进行校正。本发明提出增加一个无穷远供电点测量两个非无穷远点对二极排列勘探数据的校正参数，对实测二极排列的勘探数据进行校正，从而提高存在非无穷远点二极排列的勘探数据精度和勘探效果；且用一个无穷远供电点替代常规二极排列勘探中的两个无穷远点，故能提高勘探效率。

主权项

1.一种校正二极排列非无穷远点影响的方法，其具体步骤如下：a)在勘探区周边布设一个无穷远供电点B、第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N，按照常规二极排列方式布置供电点A和测点M；b)采用电法发送机通过无穷远供电点B与第一个非无穷远点C供电，采用电法接收机测量第二个非无穷远点N与测点M的电位差，并求取视电阻率的第一个校正参数f₁；c)采用电法发送机通过无穷远供电点B与第二个非无穷远点N供电，采用电法接收机测量第一个非无穷远点C与供电点A的电位差，并求取视电阻率的第二个校正参数f₂；d)采用电法发送机通过供电点A与第一个非无穷远点C供电，采用电法接收机测量第二个非无穷远点N与测点M的电位差U_MN，按照常规的把第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N分别当做无穷远供电点和无穷远测点的二极排列的视电阻率公式计算视电阻率ρ_AM，其中AM表示供电点A到测点M之间的距离，单位为米；U_MN为第二个非无穷远点N与测点M的电位差，单位为毫伏；I_A为供电点A通过的电流，单位为毫安；e)把步骤d)中获得的视电阻率ρ_AM利用第一个校正参数f₁和第二个校正参数f₂采用公式ρ_J＝ρ_AM+f₁+f₂进行校正，其中ρ_J为校正了第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N影响后的反应测点M下的视电阻率；从而获得校正了第一个非无穷远点C和第二个非无穷远点N影响的视电阻率结果。