[发明专利]一种压接型IGBT器件的短路失效测试方法及装置在审
| 申请号： | 201810572017.2 | 申请日： | 2018-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN109100629A | 公开（公告）日： | 2018-12-28 |
| 发明（设计）人： | 张朋;唐新灵;石浩;田丽纷;王亮;李现兵;张喆;武伟;林仲康;韩荣刚 | 申请（专利权）人： | 全球能源互联网研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 马永芬 |
| 地址： | 102209 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种压接型IGBT器件的短路失效测试方法及装置，其中方法包括：获取待测压接型IGBT器件在短路失效状态下的第一电压和第一电流，第一电压为待测压接型IGBT器件的集电极与发射极之间的电压，第一电流为待测压接型IGBT器件的集电极电流；根据第一电压和第一电流，计算待测压接型IGBT器件在短路失效状态下的失效电阻；在待测IGBT器件发生短路失效后的预设时间内获取失效电阻的变化率；根据失效电阻的变化率确定待测压接型IGBT器件的短路失效特性。本发明通过短路失效测试可以确定出待测压接型IGBT器件的失效电阻的电阻变化率，进而可以评估待测压接型IGBT器件的短路失效特性，可实现待测压接型IGBT器件投入到电力系统中进行可靠运行，并可以增强其使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 短路 测压 电阻 失效测试 失效特性 失效状态 变化率 压接 电阻变化率 集电极电流 电力系统 可靠运行 使用寿命 发射极 集电极 预设 评估 | ||
【主权项】：
1.一种压接型IGBT器件的短路失效测试方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待测压接型IGBT器件在所述短路失效状态下的第一电压和第一电流，所述第一电压为所述待测压接型IGBT器件的集电极与发射极之间的电压，所述第一电流为所述待测压接型IGBT器件的集电极电流；根据所述第一电压和所述第一电流，计算所述待测压接型IGBT器件在所述短路失效状态下的失效电阻；在所述待测IGBT器件发生所述短路失效后的预设时间内获取所述失效电阻的变化率；根据所述失效电阻的变化率确定所述待测压接型IGBT器件的短路失效特性。
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