[发明专利]一种基于紧支撑径向基函数的DEM局部脱密与恢复方法有效

专利信息
申请号: 201810579637.9 申请日: 2018-06-07
公开(公告)号: CN109002724B 公开(公告)日: 2021-03-23
发明(设计)人: 周卫;唐家明 申请(专利权)人: 南京师范大学
主分类号: G06F21/60 分类号: G06F21/60;H04L9/06;H04L9/08
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 朱桢荣
地址: 210023 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于紧支撑径向基函数的DEM局部脱密与恢复方法,主要包括以下步骤:(1)对DEM数据的局部区域进行脱密处理,包括控制点选择及其变换量设置、紧支撑径向基函数脱密模型建立、DEM数据局部脱密处理等步骤;(2)对局部脱密DEM数据进行恢复处理,包括密钥解密读取、局部恢复模型建立、局部脱密DEM数据恢复处理等步骤。本发明方法具有紧支撑、控制点精确变换、安全性高等特性,可为DEM数据的安全共享提供技术支持。
搜索关键词: 一种 基于 支撑 径向 函数 dem 局部 恢复 方法
【主权项】:
1.一种基于紧支撑径向基函数的DEM局部脱密与恢复方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、对DEM数据进行脱密处理,得到脱密处理后的DEM数据;所述脱密处理包括脱密控制点选取与脱密变换量设置、建立局部脱密模型并根据该局部脱密模型对DEM数据进行局部脱密处理,得到脱密处理后的DEM数据;脱密控制点选取与脱密变换量设置、建立局部脱密模型的具体过程如下:(1.1)、脱密控制点选取与脱密变换量设置:选取敏感地形特征点作为脱密控制点,敏感地形特征点包括山谷点和山脊点,并给予脱密变换量Δzi,得到脱密控制点坐标(xi,yi),i=1,2,...,n,;其中,xi为第i个脱密控制点的横坐标,yi为第i个脱密控制点的纵坐标,n为脱密控制点个数;(1.2)、建立基于紧支撑径向基函数的局部脱密模型;(1.2.1)、选择正定紧支撑径向基函数作为紧支撑基函数,其公式如式(1)所示:其中,r为紧支撑基函数的参数,r0为紧支撑基函数的紧支撑半径,X为输入高程点,Xi为第i个脱密控制点;(1‑r)+为紧支撑域控制函数,其定义为:(1.2.2)、设定紧支撑半径:紧支撑半径至少大于脱密变换量的100倍;(1.2.3)、根据步骤(1.2.1)选择的基函数与设定的紧支撑半径建立紧支撑径向基函数插值模型F(X),如式(3)所示:其中,为紧支撑基函数,‖*‖为欧几里得2范数,wi为第i个线性组合系数;(1.2.4)、将脱密控制点与脱密变换量代入到公式(3)中,得到插值模型求解方程表达式,如公式(4)所示:其中,A为高斯矩阵,w为权值矩阵,y为样本输出矩阵;则方程写成向量的形式:A·w=y   (5);(1.2.5)通过矩阵计算法则,对式(5)进行求解,得到权值矩阵w:w=A‑1y  (6);(1.2.6)根据权值矩阵生成局部脱密模型如式(7)所示:其中,tZc为第c个高程点脱密后的高程,sZc为第c个高程点脱密前的高程;将紧支撑半径r0、权值矩阵w以及脱密控制点组合成密钥key,使用DES算法进行加密并存储;步骤2、对步骤1脱密处理后的DEM数据进行恢复,恢复包括密钥解密读取、恢复模型建立与局部脱密数据的恢复处理。
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