[发明专利]一种适用于多种规格晶振的测试系统

摘要

本发明公开了一种适用于多种规格晶振的测试系统，包括一个透明的可打开的密闭盒，盒内固定设置有一个测试基板以及可以插接在测试基板上的测试插板，当需要对待测晶振进行测试时，根据所述待测晶振的供电电压选择对应的所述测试插板，并根据所述待测晶振的尺寸规格适配插接在所述测试插板上，由此可以对待测晶振在盒体内加电测试，并且还可以用透明盖罩将待测晶振及测试插板盖入其中。本发明测试系统为多种规格的晶振测试提供了便携使用的测试手段，具有适应的晶振规格类型多、使用简单、成本低、测试环境稳定等优势。

主权项

1.一种适用于多种规格晶振的测试系统，包括测试盒，其特征在于，所述测试盒为透明的可打开的密闭盒，包括盒体和盖合在所述盒体上的盒盖，所述测试系统还包括测试基板和测试插板，所述测试基板固定设置在所述盒体内，所述测试基板上设置有共用的测试电路和测试插座，测试插板上设置有与所述测试插座相对应的测试插针组，当需要对待测晶振进行测试时，根据所述待测晶振的供电电压选择对应的所述测试插板，并根据所述待测晶振的尺寸规格适配插接在所述测试插板上，然后所述测试插板通过所述测试插针组对应插接在所述测试基板上的测试插座中，所述测试基板还包括向测试电路供电的供电插座以及向所述待测晶振供电后产生源信号的信号输出插座，所述盒体的侧壁对应开设有供电插座开口和信号输出插座开口，所述盒体内还包括在对待测晶振加电测试时用于将所述待测晶振及测试插板盖入其中的透明盖罩。