[发明专利]一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法有效

专利信息
申请号: 201810595142.5 申请日: 2018-06-11
公开(公告)号: CN109030983B 公开(公告)日: 2020-07-03
发明(设计)人: 石君友;刘衎 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 祗志洁
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明是一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法,用于产品有激励测试的故障诊断。本方法获取描述测试与激励关联关系的矩阵ET、获得描述激励源与故障可达关系的矩阵FE,根据矩阵ET和FE,获得描述激励测试与故障关联关系的矩阵FT1;根据故障和激励测试的信号流关系,建立描述故障与激励测试可达关系的矩阵FT2;通过矩阵FT1与FT2,得到描述故障与激励测试一阶相关性关系的矩阵De;建立描述故障与非激励测试一阶相关性关系的矩阵FT3;将De、FT3、ET通过合成计算,得到最后描述故障、测试、激励复合关系的矩阵D,根据D进行故障诊断。本发明方法降低了模型的复杂性和分析难度,有效支持包含激励测试的系统诊断。
搜索关键词: 一种 考虑 激励 测试 诊断 关系 矩阵 生成 方法
【主权项】:
1.一种考虑激励测试的诊断关系矩阵生成方法,用于存在激励测试的系统的故障诊断,其特征在于,所述方法包括如下步骤:步骤1:首先获得系统的激励与激励测试的关联关系矩阵ET,然后获得系统的激励与故障的可达关系矩阵FE,根据矩阵ET和FE,获得描述激励测试与故障关联关系的矩阵FT1;设系统中存在m个部件、l个激励测试、k个激励,用Fi表示第i个部件故障,m、l、k均为正整数;所获得的矩阵FT1为m×l的矩阵,矩阵FT1的元素zij(1≤i≤m,1≤j≤l)如下:zij=1,表示系统中,与某测试Tj绑定的激励,能够传递到故障Fi;zij=0,表示系统中,与某测试Tj绑定的激励,不能够传递到故障Fi;步骤2:根据故障和激励测试的信号流关系,建立描述故障与激励测试可达关系的矩阵FT2;所述的矩阵FT2为m×l的矩阵,矩阵FT2的元素ftij(1≤i≤m,1≤j≤l)如下:若ftij=1,表示故障Fi的信号能够通过路径传递到激励测试Tj;若ftij=0,表示故障Fi的信号不能传递到激励测试Tj;步骤3:将矩阵FT1与FT2中对应位置的元素作与运算,得到描述故障与激励测试一阶相关性关系的矩阵De;当矩阵De中的元素deij取值为1时,代表同时满足两个条件:1)故障Fi的信号能通过信号路径传递到激励测试Tj;2)故障Fi所在的部件能够接收到与激励测试Tj关联的激励信号;步骤4:对系统根据故障和非激励测试的信号流关系,建立描述故障与非激励测试相关性的矩阵FT3;设系统中的非激励测试有n‑l个,n为正整数;步骤5:将De、FT3、ET合成得到描述故障、测试、激励复合关系的矩阵D;矩阵步骤6:利用矩阵D对被测系统进行测试诊断。
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