[发明专利]用于扫描细长结构的方法和扫描系统有效

专利信息
申请号: 201810598200.X 申请日: 2018-06-12
公开(公告)号: CN109488887B 公开(公告)日: 2022-05-31
发明(设计)人: M·萨法伊;G·E·乔治森 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: F17D5/02 分类号: F17D5/02;F17D5/00;G01N23/04
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄纶伟
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 用于扫描细长结构的方法和扫描系统。一种用于扫描细长结构的方法和系统。通过使用扫描系统中的平移结构使扫描系统中的扫描仪沿着细长结构轴向地移动。随着扫描仪沿着细长结构轴向地移动,轴向地扫描细长构件。使扫描仪在轴向扫描期间检测到不一致的位置处围绕细长结构旋转地移动。在扫描仪围绕细长结构旋转地移动的同时在所述位置处旋转地扫描细长结构。
搜索关键词: 用于 扫描 细长 结构 方法 系统
【主权项】:
1.一种扫描系统(106),该扫描系统(106)包括:平移结构(110),该平移结构(110)被配置为在细长结构(102)上轴向地移动和旋转地移动;扫描仪(112),该扫描仪(112)连接到所述平移结构(110);以及控制器(114),该控制器(114)与所述平移结构(110)和所述扫描仪(112)通信,其中,所述控制器(114)在所述扫描仪(112)执行所述细长结构(102)的轴向扫描(124)的同时控制所述平移结构(110)沿着所述细长结构(102)轴向地移动,并且在所述扫描仪(112)执行所述细长结构(102)的旋转扫描(126)的同时控制所述平移结构(110)围绕所述细长结构(102)旋转地移动。
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