[发明专利]存储器设备、存储器系统和存储器设备的操作方法在审
| 申请号： | 201810599590.2 | 申请日： | 2018-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN109087681A | 公开（公告）日： | 2018-12-25 |
| 发明（设计）人： | 权慧贞;朴光一;裴升浚;徐恩圣 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 提供了存储器设备及其操作方法。存储器设备包括：至少一个内部电路，该内部电路包括存储单元阵列和被配置为驱动存储单元阵列的外围电路；监控逻辑，被配置为监控流入至少一个内部电路的电流并且输出监控结果；检测逻辑，被配置为基于监控结果来检测漏电流是否在至少一个内部电路中流动，并且输出检测的关于漏电流的信息；以及诊断逻辑，被配置为基于检测的信息来诊断至少一个内部电路中的错误。 | ||
| 搜索关键词： | 内部电路 存储器设备 配置 漏电流 检测 存储单元阵列 驱动存储单元 存储器系统 诊断 监控结果 监控逻辑 输出监控 输出检测 外围电路 监控 流动 | ||
【主权项】：
1.一种存储器设备，包括：至少一个内部电路，包括存储单元阵列和被配置为驱动所述存储单元阵列的外围电路；监控逻辑，被配置为监控流入所述至少一个内部电路的电流并且输出监控结果；检测逻辑，被配置为基于监控结果检测漏电流是否在所述至少一个内部电路中流动，并且输出检测的关于漏电流的信息；以及诊断逻辑，被配置为基于检测的信息来诊断所述至少一个内部电路中的错误。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社，未经三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201810599590.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
